[发明专利]一种测量电光相位调制器半波电压的装置和方法有效
| 申请号： | 201310710717.0 | 申请日： | 2013-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN103645371A | 公开（公告）日： | 2014-03-19 |
| 发明（设计）人： | 张尚剑;王恒;邹新海;尹欢欢;刘永 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00 |
| 代理公司： | 成都华典专利事务所(普通合伙) 51223 | 代理人： | 徐丰;杨保刚 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量电光相位调制器半波电压的装置和方法，包括依次连接的可调谐激光器、第一光耦合器、偏振控制器、待测电光相位调制器、第二光耦合器、光电探测器、频谱分析仪，还包括微波信号源和声光移频器。本发明采用可调谐激光器输出光载波通过第一光耦合器分成两束，分别经过声光移频器和待测电光相位调制器处理，再经第二光耦合器合束，实现稳定的拍频，并通过载波拍频和边带拍频的幅度对比获得电光相位调制器的半波电压，具有分辨率高、精度高、准确性好、结构简单、操作方便的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 电光 相位 调制器 电压 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种测量电光相位调制器半波电压的装置，其特征在于：包括依次连接的可调谐激光器（1）、第一光耦合器（2）、偏振控制器（3）、待测电光相位调制器（4）、第二光耦合器（7）、光电探测器（8）、频谱分析仪（9），还包括微波信号源（5）和声光移频器（6），所述微波信号源（5）与待测电光相位调制器（4）连接，所述声光移频器（6）一端与偏振控制器（3）共同连接到第一光耦合器（2），另一端与待测电光相位调制器（4）共同连接到第二光耦合器（7）。
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