[发明专利]一种半壳体高度差检具在审
| 申请号： | 201310709863.1 | 申请日： | 2013-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN103743314A | 公开（公告）日： | 2014-04-23 |
| 发明（设计）人： | 纪爱师;纪建奕;王泽瑞 | 申请（专利权）人： | 青特集团有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/02 | 分类号： | G01B5/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 266000 山东省*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种半壳体高度差检具，包括支撑梁（1）、刻度尺（2）和齿形突起（3），支撑梁（1）和刻度尺（2）呈十字架形状，支撑梁（1）的两端分别设有一个齿形突起（3）。本发明依照简单易用原则，采用两点定位，中间使用刻度尺进行测量，制造方便，使用方法简单。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 壳体 高度 差检具 | ||
【主权项】：
一种半壳体高度差检具，其特征在于，包括支撑梁（1）、刻度尺（2）和齿形突起（3），支撑梁（1）和刻度尺（2）呈十字架形状，支撑梁（1）的两端分别设有一个齿形突起（3）。
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