[发明专利]一种场限环-负斜角复合终端结构有效

专利信息
申请号: 201310695943.6 申请日: 2013-12-17
公开(公告)号: CN103745987A 公开(公告)日: 2014-04-23
发明(设计)人: 王彩琳;王一宇 申请(专利权)人: 西安理工大学
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/40
代理公司: 西安弘理专利事务所 61214 代理人: 李娜
地址: 710048*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种场限环-负斜角复合终端结构,将芯片的中央区域作为有源区,将有源区外围区域作为终端区,有源区和终端区共同的n-衬底下方设置有n型FS层,在n型FS层下方设置有p+阳极区及阳极;有源区中,n-基区中设置有多个并联的单元,每个单元内与n-基区相邻的是波状p基区,p基区上面为p+基区,p+基区中央设置有一个阴极n+发射区,每个n+发射区上方设有阴极;p+基区上方设有门极,并且整个门极环绕在所包围的阴极n+发射区的周围;在终端区的n-衬底内,在主结外侧设了至少一个p型场限环,并在场限环上面有一个负斜角,斜面上覆有钝化层。本发明的场限环-负斜角复合终端结构具有更好的高温稳定性。
搜索关键词: 一种 场限环 斜角 复合 终端 结构
【主权项】:
一种场限环‑负斜角复合终端结构,其特征在于:将芯片的中央区域作为有源区,将有源区外围区域作为终端区,有源区和终端区共同的n衬底下方设置有n型FS层,在n型FS层下方设置有p+阳极区及其阳极;在有源区中,n基区中设置有多个并联的单元,每个单元内与n基区相邻的是波状p基区,p基区上面为p+基区,p+基区中央设置有一个阴极n+发射区,每个n+发射区上方设置有阴极;p+基区上方设置有门极,并且整个门极环绕在所包围的阴极n+发射区的周围;在终端区的n衬底内,在主结外侧设置了至少一个p型场限环,并且在场限环上面有一个负斜角,使得终端区上表面为斜面,斜面上覆有钝化层。
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