[发明专利]TM021模式的高功率微波等离子体金刚石膜沉积装置有效
申请号: | 201310687614.7 | 申请日: | 2013-12-13 |
公开(公告)号: | CN103695865A | 公开(公告)日: | 2014-04-02 |
发明(设计)人: | 唐伟忠;李义锋;苏静杰;刘艳青;丁明辉;李小龙;姚鹏丽 | 申请(专利权)人: | 北京科技大学 |
主分类号: | C23C16/27 | 分类号: | C23C16/27;C23C16/517;C23C16/511;C23C16/513 |
代理公司: | 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 | 代理人: | 皋吉甫 |
地址: | 100083*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明TM021模式的高功率微波等离子体金刚石膜沉积装置,该装置由上下圆柱体、可调节的上腔体和微波反射板、沉积台、微波同轴激励口,微波石英窗口,进出气口,测温孔和观察窗等组成。此装置拥有TM021模式的电场分布,具有微波谐振腔内电场分布集中,激发等离子体位置稳定的特点。该装置可通过其调节机构实时地优化装置中等离子体的分布。置于沉积台下方的环状微波石英窗口可避免被等离子体过度加热、污染和刻蚀。谐振腔内壁距离高温等离子体区较远,减弱了对腔室内壁的热辐射和避免沉积异物。装置各主要部件可直接水冷。上述优点使得此装置可被应用于较高功率的微波输入,实现大面积高品质金刚石膜的高效沉积。 | ||
搜索关键词: | tm sub 021 模式 功率 微波 等离子体 金刚石 沉积 装置 | ||
【主权项】:
一种TM021模式的高功率微波等离子体金刚石膜沉积装置,其特征在于,该装置包括微波谐振腔兼真空腔室主体、微波馈入口、气体流通和平衡系统和调节结构;所述微波谐振腔兼真空腔室主体由上圆柱体(1)、下圆柱体(2)、圆柱形上腔体(3)和微波反射板(4)、沉积金刚石膜的沉积台(5)和样品托(12)和石英微波窗口(6)组成;所述微波馈入口由同轴内导体(7)和同轴外导体(8)组成; 所述气体流通和平衡系统包括进气口(10)、出气口(13)和进气管道(20);所述调节结构包括:右调节柱(17),左调节柱(18)和反射板调节柱(19);其中,所述上圆柱体(1)的下端设置下圆柱体(2),所述圆柱形上腔体(3)通过右调节柱(17)和左调节柱(18)安装在所述上圆柱体(1)内部的上端,所述圆柱形上腔体(3)在右调节柱(17)和左调节柱(18)的驱动下在所述上腔体(1)内上下调节,所述微波反射板(4)设置在所述圆柱形上腔体(3)内,所述反射板调节柱(19)一端固定在所述上圆柱体(1)的顶端,另一端穿过所述圆柱形上腔体(3)与所述微波反射板(4)固接,所述微波反射板(4)在反射板调节柱(19)驱动下在所述圆柱形上腔体(3)内上下调节,所述沉积金刚石膜的沉积台(5)设置在所述下圆柱体(2)内,所述样品托(12)设置在所述沉积金刚石膜的沉积台(5)的顶部,所述石英微波窗口(6)设置在所述沉积金刚石膜的沉积台(5)下端,所述出气口(13)设置在下圆柱体(2)的底部,由所述同轴内导体(7)和同轴外导体(8)组成的微波馈入口与所述下圆柱体(2)的底部联通,所述进气管道(20)内嵌于所述反射板调节柱(19)的中心位置,所述进气口(10)设置在所述反射板调节柱(19)一侧管壁上,所述进气口(10)与进气管道(20)联通,所述反射板调节柱(19)的顶部设有测温装置(14),所述测温装置(14)下端进气管道(20)内设置测温透镜(15),,观察窗(16)设置所述上圆柱体(1)和下圆柱体(2)连接处的侧壁上。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
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