[发明专利]一种铝合金硬质阳极化膜层厚度生长量化值的测量方法无效
| 申请号： | 201310669285.3 | 申请日： | 2013-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN103630038A | 公开（公告）日： | 2014-03-12 |
| 发明（设计）人： | 夏兆蓉;李宏;杨亚先 | 申请（专利权）人： | 贵州红林机械有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/06 | 分类号： | G01B5/06;G01B11/06 |
| 代理公司： | 贵阳东圣专利商标事务有限公司 52002 | 代理人： | 袁庆云 |
| 地址： | 550009 贵州*** | 国省代码： | 贵州;52 |
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| 摘要： | 发明公开了一种铝合金硬质阳极化膜层厚度生长量化值的测量方法，包括：检测阳极化前外圆尺寸；硬质阳极化；测阳极化后外圆尺寸：往基体外生长的膜层厚度：δo=δ1÷2，δ1为千分表检测厚度；膜层厚度δ=δo+δi，δo为往基体外生长厚度；δi往基体内生长厚度。测厚仪检测膜层厚度，测得膜层厚度为δ2；或金相法检测膜层厚度：用截面显微检测膜层厚度，在制作的磨片截面上，借助于金相显微镜最准确地测量膜层厚度δ3；膜层厚度生长量化值（即往基体外生长的膜层厚度与膜层厚度量化值）：δo/（δ2或δ3）。本发明能得到具体的量化值，以保证工件阳极化后与计算得来的预计尺寸一致。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 铝合金 硬质 阳极 化膜层 厚度 生长 量化 测量方法 | ||
【主权项】：
一种铝合金硬质阳极化膜层厚度生长量化值的测量方法，包括以下步骤：（1）检测阳极化前外圆尺寸在恒温20～21℃温度下，用千分表检测尺寸，粗糙仪检测光洁度；（2）硬质阳极化膜层厚度要求在46～55μm，常规方法进行硬质阳极化；（3）检测阳极化后外圆尺寸在恒温20～21℃环境温度下，用千分表检测外圆尺寸；测量工件前、后尺寸差值的绝对值即为膜层厚度往基体外生长的两倍，往基体外生长的膜层厚度：δo=δ1÷2其中：δ1为千分表检测厚度；膜层厚度δ=δo+δi其中：δo为往基体外生长厚度；δi往基体内生长厚度；（4）测厚仪检测膜层厚度，测得膜层厚度为δ2；或金相法检测膜层厚度：用截面显微检测膜层厚度，在制作的磨片截面上，借助于金相显微镜最准确地测量膜层厚度δ3；膜层厚度生长量化值：δo/δ2或δo/δ3。
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