[发明专利]一种铝合金硬质阳极化膜层厚度生长量化值的测量方法

权利要求书

1.一种铝合金硬质阳极化膜层厚度生长量化值的测量方法，包括以下步骤：

（1）检测阳极化前外圆尺寸

在恒温20～21℃温度下，用千分表检测尺寸，粗糙仪检测光洁度；

（2）硬质阳极化

膜层厚度要求在46～55μm，常规方法进行硬质阳极化；

（3）检测阳极化后外圆尺寸

在恒温20～21℃环境温度下，用千分表检测外圆尺寸；

测量工件前、后尺寸差值的绝对值即为膜层厚度往基体外生长的两倍，往基体外生长的膜层厚度：δo=δ1÷2

其中：δ1为千分表检测厚度；

膜层厚度δ=δo+δi

其中：δo为往基体外生长厚度；δi往基体内生长厚度；

（4）测厚仪检测膜层厚度，测得膜层厚度为δ2；

或金相法检测膜层厚度：用截面显微检测膜层厚度，在制作的磨片截面上，借助于金相显微镜最准确地测量膜层厚度δ3；

膜层厚度生长量化值：δo/δ2或δo/δ3。

2.如权利要求1所述的一种铝合金硬质阳极化膜层厚度生长量化值的测量方法，其中：在零件表面作检测厚度位置标记，硬质阳极化前后尺寸测量位置、测厚仪测量位置、金相法检测位置均在同一处。

3.如权利要求1或2所述的一种铝合金硬质阳极化膜层厚度生长量化值的测量方法，其中：表面光洁度0.4。