[发明专利]一种制作硅基异质结电池片时边缘绝缘的方法有效

专利信息
申请号: 201310666703.3 申请日: 2013-12-10
公开(公告)号: CN104701411A 公开(公告)日: 2015-06-10
发明(设计)人: 林朝晖;宋广华;曾小燕;黄辉明 申请(专利权)人: 泉州市博泰半导体科技有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18
代理公司: 代理人:
地址: 362000 福建省泉州市鲤城区高*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明公开了一种制作硅基异质结电池片时边缘绝缘的方法,包括:提供正面已沉积P-型非晶硅薄膜层,反面已沉积N-型非晶硅薄膜层的硅片;在所述硅片正反两面上沉积导电透明氧化物层;在所述导电透明氧化物层上沉积阻挡层;在所述阻挡层上沉积种子层,其中导电透明氧化物层、阻挡层、种子层均绕镀到硅片的四周切面;在所述种子层外包覆上光阻材料层,其中光阻材料层包覆到硅片四周切面;将光阻材料层包覆到硅片四周切面的部分掩膜,正反两面进行曝光显影;刻蚀掉包覆到硅片四周切面的部分的光阻材料层;刻蚀掉绕镀到硅片四周切面的种子层、阻挡层和导电透明氧化物层;刻蚀掉正反两面的光阻材料层。本发明在于实现制作硅基异质结电池片时边缘绝缘。
搜索关键词: 一种 制作 硅基异质结 电池 片时 边缘 绝缘 方法
【主权项】:
一种制作硅基异质结电池片时边缘绝缘的方法,其特征在于,包括:提供正面已沉积P‑型非晶硅薄膜层,反面已沉积N‑型非晶硅薄膜层的硅片;在所述硅片正反两面上沉积导电透明氧化物层;在所述导电透明氧化物层上沉积阻挡层;在所述阻挡层上沉积种子层,其中导电透明氧化物层、阻挡层、种子层均绕镀到硅片的四周切面;在所述种子层外包覆上光阻材料层,其中光阻材料层包覆到硅片四周切面;将光阻材料层包覆到硅片四周切面的部分掩膜,正反两面进行曝光显影;刻蚀掉包覆到硅片四周切面的部分的光阻材料层;刻蚀掉绕镀到硅片四周切面的种子层、阻挡层和导电透明氧化物层;刻蚀掉正反两面的光阻材料层。
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