[发明专利]一种制作硅基异质结电池片时边缘绝缘的方法有效
申请号: | 201310666703.3 | 申请日: | 2013-12-10 |
公开(公告)号: | CN104701411A | 公开(公告)日: | 2015-06-10 |
发明(设计)人: | 林朝晖;宋广华;曾小燕;黄辉明 | 申请(专利权)人: | 泉州市博泰半导体科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 无 | 代理人: | 无 |
地址: | 362000 福建省泉州市鲤城区高*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本发明公开了一种制作硅基异质结电池片时边缘绝缘的方法,包括:提供正面已沉积P-型非晶硅薄膜层,反面已沉积N-型非晶硅薄膜层的硅片;在所述硅片正反两面上沉积导电透明氧化物层;在所述导电透明氧化物层上沉积阻挡层;在所述阻挡层上沉积种子层,其中导电透明氧化物层、阻挡层、种子层均绕镀到硅片的四周切面;在所述种子层外包覆上光阻材料层,其中光阻材料层包覆到硅片四周切面;将光阻材料层包覆到硅片四周切面的部分掩膜,正反两面进行曝光显影;刻蚀掉包覆到硅片四周切面的部分的光阻材料层;刻蚀掉绕镀到硅片四周切面的种子层、阻挡层和导电透明氧化物层;刻蚀掉正反两面的光阻材料层。本发明在于实现制作硅基异质结电池片时边缘绝缘。 | ||
搜索关键词: | 一种 制作 硅基异质结 电池 片时 边缘 绝缘 方法 | ||
【主权项】:
一种制作硅基异质结电池片时边缘绝缘的方法,其特征在于,包括:提供正面已沉积P‑型非晶硅薄膜层,反面已沉积N‑型非晶硅薄膜层的硅片;在所述硅片正反两面上沉积导电透明氧化物层;在所述导电透明氧化物层上沉积阻挡层;在所述阻挡层上沉积种子层,其中导电透明氧化物层、阻挡层、种子层均绕镀到硅片的四周切面;在所述种子层外包覆上光阻材料层,其中光阻材料层包覆到硅片四周切面;将光阻材料层包覆到硅片四周切面的部分掩膜,正反两面进行曝光显影;刻蚀掉包覆到硅片四周切面的部分的光阻材料层;刻蚀掉绕镀到硅片四周切面的种子层、阻挡层和导电透明氧化物层;刻蚀掉正反两面的光阻材料层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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