[发明专利]嵌入式存储器测试系统有效
| 申请号： | 201310665285.6 | 申请日： | 2013-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN103871478B | 公开（公告）日： | 2018-08-10 |
| 发明（设计）人： | 拉古拉姆·达莫达兰;纳韦恩·布霍里亚;阿曼·科克拉迪 | 申请（专利权）人： | 德州仪器公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 林斯凯 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本申请案涉及一种嵌入式存储器测试系统。本发明涉及一种用于测试嵌入式存储器的可编程内建自测试pBIST系统，其中将需要不同测试条件的多个存储器并入于SOC中。存储测试设置数据的pBIST只读存储器经组织以消除针对类似嵌入式存储器的测试设置数据的多个实例。 | ||
| 搜索关键词： | 嵌入式 存储器 测试 系统 | ||
【主权项】：
1.一种设置在具有嵌入式存储器测试系统的单个集成电路上的芯片上系统，其包括：多个具有多种存储器类型的嵌入式随机存取存储器；只读存储器，其存储用于测试所述多种类型的嵌入式随机存取存储器中的每一种的指令，以及用于测试所述嵌入式随机存取存储器的数据；以及可编程内建自测试pBIST引擎，其耦合到所述多个嵌入式随机存取存储器中的每一者且耦合到所述只读存储器，所述pBIST引擎可操作以使用存储在所述只读存储器中的对应所述嵌入式随机存取存储器的所述存储器类型的指令，以及存储在所述只读存储器中的数据，来测试所述多个嵌入式随机存取存储器中的每一者。
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