[发明专利]CCD芯片调制传递函数测试装置及方法无效
| 申请号： | 201310644035.4 | 申请日： | 2013-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN103592108A | 公开（公告）日： | 2014-02-19 |
| 发明（设计）人： | 邵晓鹏;高鹏;王琳;徐军;骆秋桦;曹蕾;程坤 | 申请（专利权）人： | 西安电子科技大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人： | 张问芬;王品华 |
| 地址： | 710071*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种CCD芯片调制传递函数测试装置及测试方法，其测试装置主要包括He-Ne激光器、可调衰减器、扩束镜、针孔滤波器、光阑、准直透镜、改进型迈克尔逊干涉仪、暗箱、图像采集卡和PC数据处理系统。He-Ne激光器、可调衰减器、扩束镜、针孔滤波器、光阑、准直透镜依次位于改进型迈克尔逊干涉仪入射光路上且各部分光轴为一条直线；暗箱位于改进型迈克尔逊干涉仪的出射光路PC数据处理系统与暗箱中接有CCD的图像采集卡相连。入射光线经测试装置处理成平行光，再经干涉仪射出正弦干涉条纹，利用正弦干涉条纹图样作为靶标，通过CCD成像，然后利用正弦干涉条纹对比度与像对比度比值的方法测试出CCD的调制传递函数。 | ||
| 搜索关键词： | ccd 芯片 调制 传递函数 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种CCD芯片调制传递函数测试装置，其特征在于：所述的CCD芯片调制传递函数测试装置包括He‑Ne激光器（1）、可调衰减器（2）、扩束镜（3）、针孔滤波器（4）、光阑（5）、准直透镜（6）、迈克尔逊干涉仪（7）、图像采集卡（8）、暗箱（9）、PC数据处理系统（10）和待测CCD芯片（11）；所述He‑Ne激光器（1）、可调衰减器（2）、扩束镜（3）、针孔滤波器（4）、光阑（5）、准直透镜（6）依次置于迈克尔逊干涉仪（7）的入射光路并各组件的光轴为一条直线；待测CCD芯片（11）与图像采集卡（8）连接装入暗箱（9）内以免杂散光影响测量，所述暗箱（9）通过不透光管道连接在迈克尔逊干涉仪（7）的出射光路上，所述PC数据处理系统（10）与图像采集卡（8）连接，读取所成图像信息。
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