[发明专利]一种背结-背接触太阳能前表面场制备方法无效
申请号: | 201310620944.4 | 申请日: | 2013-11-29 |
公开(公告)号: | CN103794678A | 公开(公告)日: | 2014-05-14 |
发明(设计)人: | 董经兵;朱彦斌;李海波;邢国强 | 申请(专利权)人: | 奥特斯维能源(太仓)有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 刘燕娇 |
地址: | 215434 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种太阳电池的制备方法,尤其是一种背结-背接触太阳电池前表面场制备方法,包括步骤:将硅片进行双面抛光;通过激光烧蚀或者腐蚀性浆料刻蚀的方法;对硅片进行双面织构化处理;将硅片放入扩散炉中进行双面磷源扩散处理;在硅片背面整个区域沉积介质薄膜;去除硅片前表面的PSG;将硅片放入刻蚀溶液中刻蚀;去除硅片背面的介质薄膜;对硅片进行后续介质薄膜沉积及金属化工艺处理。本发明通过在背面沉积介质薄膜,使得刻蚀工艺对电池背面基区的n+层不产生影响,保留了背面n+层的掺杂浓度,从而有利于降低背面基区金属与硅基体的接触电阻,提高太阳电池的性能。 | ||
搜索关键词: | 一种 接触 太阳能 表面 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种背结‑背接触太阳电池前表面场制备方法,其特征在于:包括以下步骤(a)将硅片进行双面抛光,对抛光后的硅片背面利用硼源扩散得到p+发射极,在硅片背面沉积80‑200nm的介质薄膜; (b)通过激光烧蚀或者腐蚀性浆料刻蚀的方法,将硅片背面要形成n型电极局域的介质膜去掉,得到基区开膜图案;(c)对硅片进行双面织构化处理;(d)将硅片放入扩散炉中进行双面磷源扩散处理,在背面基区开膜处及前表面得到n+重掺杂层;(e)在硅片背面整个区域沉积20‑150nm的介质薄膜; (f)采用单面腐蚀的方式,去除硅片前表面的PSG;(g)将硅片放入刻蚀溶液中刻蚀0.5‑1min至硅片正面方阻为100‑200Ω/□□;(h)将刻蚀后的硅片放入一定浓度的HF溶液中浸泡以去除硅片背面的介质薄膜;(i)对硅片进行后续介质薄膜沉积及金属化工艺;根据权利要求1所述的一种背结‑背接触太阳电池前表面场制备方法,其特征在于:步骤(a)中的介质薄膜为SiNx、SiOx、SiCx的一种或多种层叠组成。
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