[发明专利]具有周期性结构的光学薄膜的瑕疵检测方法及其检测装置

摘要

发明提供一种用于检测具有周期性结构光学薄膜的瑕疵检测方法及检测装置，瑕疵检测方法包括以下步骤：(A)于具有周期性结构的待检测光学薄膜上撷取的原始影像;(B)从原始影像中撷取子影像；(C)从原始影像中撷取比对影像；(D)将子影像与比对影像进行影像处理；(E)计算该处理影像的平均灰阶值；(F)分析该平均灰阶值以判断该子影像所对应的光学薄膜是否具有瑕疵。本发明的瑕疵检测方法可有效地检测出具有周期性结构的光学薄膜上的瑕疵，并且可以避免环境光源的影响，提高了检测精度。

主权项

一种用于检测具有周期性结构的光学薄膜的瑕疵检测方法，其特征在于该瑕疵检测方法包括以下步骤：(A)于具有周期性结构的待检测光学薄膜上撷取原始影像，该原始影像具有m个周期的周期性结构，其中m为正数；(B)从该原始影像中撷取子影像，该子影像具有n个周期的周期性结构，其中n为正数，且n

下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。 免登录下载普通用户下载升级VIP会员，免费下载

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于明基材料有限公司;明基材料股份有限公司，未经明基材料有限公司;明基材料股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】

本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310612596.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。