[发明专利]一种对CIS芯片的量产测试方法

摘要

一种对CIS芯片的量产测试方法，基于FPGA模块进行，包括：提供具有测试机和安装有MIPI桥接芯片和FPGA模块的测试载板的测试系统；测试机控制CIS芯片采集图像；CIS芯片将图像数据以高速串行信号的模式输出到MIPI桥接芯片；MIPI桥接芯片在FPGA模块控制下读取高速串行信号，转换成并行的低速数据信号上传给FPGA模块；FPGA模块读取并行的低速数据信号，进行技术处理，获得计算结果，将计算结果在测试机的控制下上传；测试机读取结果后进行判断和程序流程的控制。本发明通过专用的MIPI桥接芯片的数据转换避免了对测试机的高速信号端口的依赖；同时采用FPGA内部DSP数据处理，提高了数据的计算速度，实现多工位并行数据运算，比依靠测试机工作站的串行计算缩短了数据处理时间。

主权项

一种对CIS芯片的量产测试方法，其特征在于，所述CIS芯片具有移动通信行业处理器接口MIPI，所述方法基于现场可编程门阵列FPGA模块进行，包括如下步骤：步骤1：提供一种对CIS芯片的量产测试系统，包括：测试机，被测CIS芯片，测试载板，其中，测试载板上安装MIPI桥接芯片和FPGA模块；被测CIS芯片的MIPI端口的管脚与MIPI桥接芯片的MIPI输入端口相连，MIPI桥接芯片的其它信号端口与FPGA模块相连，受FPGA模块控制；步骤2：测试机通过与被测CIS芯片直连的数字通道控制CIS芯片采集图像；步骤3：CIS芯片采集图像后通过MIPI端口将图像数据以高速串行信号的模式输出到MIPI桥接芯片；步骤4：MIPI桥接芯片在FPGA模块控制下读取所述高速串行信号，转换成并行的低速数据信号上传给FPGA模块；步骤5：FPGA模块通过并行数据通道读取MIPI桥接芯片转换的并行的低速数据信号，进行技术处理，获得计算结果；步骤6：FPGA模块将计算结果在测试机的控制下进行上传；步骤7：测试机读取结果后进行判断和程序流程的控制；步骤8：上述步骤2‑7完成之后，测试机发送指令让被测CIS芯片和FPGA模块恢复到待机状态，完成一个测试周期。