[发明专利]晶圆工艺的切割方法无效
申请号: | 201310578444.9 | 申请日: | 2013-11-18 |
公开(公告)号: | CN104064517A | 公开(公告)日: | 2014-09-24 |
发明(设计)人: | 蔡鸿文;陈俊廷 | 申请(专利权)人: | 圣太科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/78 | 分类号: | H01L21/78;B28D5/00;B23K26/38 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 梁挥;常大军 |
地址: | 中国台湾台中市清*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种晶圆工艺的切割方法,包括:备有硅晶圆,于硅晶圆正面形成有一金属层,该金属层形成有一凸块层,在该凸块层上贴覆有一晶背研磨贴带,于该硅晶圆背面上进行半切割形成切割道。接着,对该硅晶圆的背面进行研磨至所预定的厚度后仅存部分的切割道,将晶背研磨贴带剥去,将该硅晶圆背面贴覆有切割贴带。最后,以激光在金属层上切割,并贯穿该金属层及该硅晶圆与该切割道相通,即完成芯片切割。藉由此使得制作成本低,而且在工艺过程中不会产生崩塌或裂痕,可以将芯片顶面或底部的碎屑排掉。 | ||
搜索关键词: | 工艺 切割 方法 | ||
【主权项】:
一种晶圆工艺的切割方法,其特征在于,包括:a)、备有一硅晶圆;b)、于硅晶圆的正面形成有一金属层;c)、在该金属层形成有一凸块层;d)、在该凸块层上贴覆有一晶背研磨贴带;e)、在该硅晶圆背面上切割形成有一第一切割道;f)、在该第一切割道形成后,以一第二切割刀伸入至该第一切割道的底部中,在该第一切割道的底部上成形有一第二切割道;g)、对该硅晶圆的背面进行研磨至所预定的厚度,在研磨后该硅晶圆背面仅存有该第二切割道;h)、将晶背研磨贴带剥去后,将该硅晶圆背面贴覆有切割贴带;i)、以激光在金属层上切割,并贯穿该金属层及该硅晶圆与该第二切割道相通,即完成芯片切割。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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