[发明专利]晶圆工艺的切割方法无效

专利信息
申请号: 201310578444.9 申请日: 2013-11-18
公开(公告)号: CN104064517A 公开(公告)日: 2014-09-24
发明(设计)人: 蔡鸿文;陈俊廷 申请(专利权)人: 圣太科技有限公司
主分类号: H01L21/78 分类号: H01L21/78;B28D5/00;B23K26/38
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 梁挥;常大军
地址: 中国台湾台中市清*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种晶圆工艺的切割方法,包括:备有硅晶圆,于硅晶圆正面形成有一金属层,该金属层形成有一凸块层,在该凸块层上贴覆有一晶背研磨贴带,于该硅晶圆背面上进行半切割形成切割道。接着,对该硅晶圆的背面进行研磨至所预定的厚度后仅存部分的切割道,将晶背研磨贴带剥去,将该硅晶圆背面贴覆有切割贴带。最后,以激光在金属层上切割,并贯穿该金属层及该硅晶圆与该切割道相通,即完成芯片切割。藉由此使得制作成本低,而且在工艺过程中不会产生崩塌或裂痕,可以将芯片顶面或底部的碎屑排掉。
搜索关键词: 工艺 切割 方法
【主权项】:
一种晶圆工艺的切割方法,其特征在于,包括:a)、备有一硅晶圆;b)、于硅晶圆的正面形成有一金属层;c)、在该金属层形成有一凸块层;d)、在该凸块层上贴覆有一晶背研磨贴带;e)、在该硅晶圆背面上切割形成有一第一切割道;f)、在该第一切割道形成后,以一第二切割刀伸入至该第一切割道的底部中,在该第一切割道的底部上成形有一第二切割道;g)、对该硅晶圆的背面进行研磨至所预定的厚度,在研磨后该硅晶圆背面仅存有该第二切割道;h)、将晶背研磨贴带剥去后,将该硅晶圆背面贴覆有切割贴带;i)、以激光在金属层上切割,并贯穿该金属层及该硅晶圆与该第二切割道相通,即完成芯片切割。
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