[发明专利]一种非金属轴的膜厚测量方法及系统有效
| 申请号： | 201310559699.0 | 申请日： | 2013-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN103673861A | 公开（公告）日： | 2014-03-26 |
| 发明（设计）人： | 魏志远;冯小武;肖银华;吴虑 | 申请（专利权）人： | 富士施乐高科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01B7/06 | 分类号： | G01B7/06 |
| 代理公司： | 北京市隆安律师事务所 11323 | 代理人： | 权鲜枝 |
| 地址： | 518000 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种非金属轴的膜厚测量方法及系统，首先将金属基准轴浸入所述涂液中按待测定非金属轴在所述涂液中涂布程序进行涂布，以涡电流测量法测量其膜厚，获取测定所述金属基准轴膜厚的涡电流，根据涡电流与所述待测非金属轴的关系获取待测非金属轴的膜厚。本发明的轴的膜厚测量方法及系统，测量准确，方法简便，大大提高了检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 非金属 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
一种非金属轴的膜厚测量方法，其特征在于，包括待测定非金属轴、金属基准轴、涡电流测量机、形成膜层的涂液，所述金属基准轴和所述待测定非金属轴的大小、形状相同，所述非金属轴的膜厚测量方法包括如下步骤：在金属基准轴表面形成膜层：将所述金属基准轴浸入所述涂液中按待测定非金属轴承在所述涂液中涂布程序进行涂布，在所述金属基准轴表面形成膜层； 测定金属基准轴的膜厚：在所述涡电流测量机上选定所述金属基准轴上至少一点以涡电流测量法测量其膜厚，获取测定所述金属基准轴膜厚的涡电流；获取待测非金属轴的膜厚: 显微镜观测数据与涡电流测定仪测出的数据存在强相关性时，根据涡电流与所述待测非金属轴的关系：y=1.7976x + 0.1505 ,其中：y表示用显微镜测定所述非金属轴的膜厚，x表示涡电流，获取待测非金属轴的膜厚。
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