[发明专利]一种非金属轴的膜厚测量方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种膜厚测量方法及系统，尤其涉及一种非金属轴的膜厚测量方法及系统。

背景技术

在一些打印机或其它设备中，需要在一些非金属轴的表面构造一层膜，在进行精密设备制作时，需要计算膜的厚度。对于金属轴，可以直接采用涡电流的方法计算膜的厚度。而对于非金属轴，由于其不导电，不能采用涡电流的方法计算膜的厚度。现有技术中，对于非金属轴的膜厚计算，通常采用刀片从橡胶轴上切割带涂料层的橡胶一块，通过显微镜观察此块橡胶的断面，再用显微镜观测到的数据来计算出涂料层膜厚，这种方法。用显微镜测定涂料层的膜厚：读数偏差大，准确性较差容易造成极大的误差；只能测定周方向上的一个点，采样有偏差；同时，切割测定块较困难，且会造成产品浪费。

发明内容

本发明解决的技术问题是：构建一种非金属轴的膜厚测量方法及系统，克服现有技术手动测量不准确的技术问题。

本发明的技术方案是：构建一种轴承膜厚测量方法，包括待测定非金属轴、金属基准轴、涡电流测量机、形成膜层的涂液。所述金属基准轴和所述待测定非金属轴的大小、形状相同，所述非金属轴的膜厚测量方法包括如下步骤：

在金属基准轴表面形成膜层：将所述金属基准轴浸入所述涂液中按待测定非金属轴在所述涂液中涂布程序进行涂布，在所述金属基准轴表面形成膜层；

测定金属基准轴的膜厚：在所述涡电流测量机上选定所述金属基准轴上至少一点以涡电流测量法测量其膜厚，获取测定所述金属基准轴膜厚的涡电流；

获取待测非金属轴的膜厚；显微镜观测数据与涡电流测定仪测出的数据存在强相关性时，根据涡电流与所述待测非金属轴的关系：y=1.7976x+0.1505，其中：y表示所述非金属轴的膜厚，x表示涡电流，获取待测非金属轴的膜厚。

本发明的进一步技术方案是：在测定金属基准轴的膜厚步骤中，选取所述金属基准轴上多个不同位置的点涡电流测量法测量其膜厚，然后计算其平均值。

本发明的进一步技术方案是：在测定金属基准轴的膜厚步骤中，其特征在于，在测定金属基准轴的膜厚步骤中，所述多个不同位置的点既在所述金属基准轴的轴方向的位置不同，又在所述金属轴的截面圆周方向上点的位置不同，但圆周方向各点的角度间隔相同。

本发明的进一步技术方案是：在测定金属基准轴的膜厚步骤中，选定所述金属基准轴的轴方向上相对三点以涡电流测量法测量其膜厚，然后计算其平均值。

本发明的进一步技术方案是：在测定金属基准轴的膜厚步骤中，在所述金属基准轴的一个截面位置圆周方向上选择四个点，该四个点为绕所述金属基准轴转动90度在所述金属基准轴上的点。

本发明的进一步技术方案是：在测定金属基准轴的膜厚步骤中，以涡电流测量所述金属基准轴三个截面位置的点，取其测量所得膜厚均值。

本发明的技术方案是：提供一种非金属轴的膜厚测量系统，包括待测定非金属轴、金属基准轴、涡电流测量机、形成膜层的涂液、膜厚获取模块，所述金属基准轴和所述待测定非金属轴的大小、形状相同，将所述金属基准轴浸入所述涂液中按待测定非金属轴在所述涂液中涂布程序进行涂布，在所述金属基准轴表面形成膜层；在所述涡电流测量机上选定所述金属基准轴上至少一点以涡电流测量法测量其膜厚，获取测定所述金属基准轴膜厚的涡电流；显微镜观测数据与涡电流测定仪测出的数据存在强相关性时，根据涡电流与所述待测非金属轴的关系：y=1.7976x+0.1505，其中：y表示所述非金属轴的膜厚，x表示涡电流，所述膜厚获取模块获取待测非金属轴的膜厚。

本发明的进一步技术方案是：还包括多点测量模块，所述多点测量模块测量所述金属基准轴多个位置的膜厚，获取其平均膜厚以及平均涡电流。

本发明的进一步技术方案是：所述非金属轴承为橡胶轴。