[发明专利]一种非金属轴的膜厚测量方法及系统

权利要求书

1.一种非金属轴的膜厚测量方法，其特征在于，包括待测定非金属轴、金属基准轴、涡电流测量机、形成膜层的涂液，所述金属基准轴和所述待测定非金属轴的大小、形状相同，所述非金属轴的膜厚测量方法包括如下步骤：

在金属基准轴表面形成膜层：将所述金属基准轴浸入所述涂液中按待测定非金属轴承在所述涂液中涂布程序进行涂布，在所述金属基准轴表面形成膜层； 

测定金属基准轴的膜厚：在所述涡电流测量机上选定所述金属基准轴上至少一点以涡电流测量法测量其膜厚，获取测定所述金属基准轴膜厚的涡电流；

获取待测非金属轴的膜厚: 显微镜观测数据与涡电流测定仪测出的数据存在强相关性时，根据涡电流与所述待测非金属轴的关系：y=1.7976x + 0.1505 ,其中：y表示用显微镜测定所述非金属轴的膜厚，x表示涡电流，获取待测非金属轴的膜厚。

2.根据权利要求1所述非金属轴的膜厚测量方法，其特征在于，在测定金属基准轴的膜厚步骤中，选取所述金属基准轴上多个不同位置的点涡电流测量法测量其膜厚，然后计算其平均值。

3.根据权利要求2所述非金属轴的膜厚测量方法，其特征在于，在测定金属基准轴的膜厚步骤中，所述多个不同位置的点既在所述金属基准轴的轴方向的位置不同，又在所述金属轴的截面圆周方向上点的位置不同，但圆周方向各点的角度间隔相同。

4.根据权利要求2所述非金属轴的膜厚测量方法，其特征在于，在测定金属基准轴的膜厚步骤中，选定所述金属基准轴的轴方向上相对三点以涡电流测量法测量其膜厚，然后计算其平均值。

5.根据权利要求3所述非金属轴的膜厚测量方法，其特征在于，在测定金属基准轴的膜厚步骤中，在所述金属基准轴的一个截面位置圆周方向上选择四个点，该四个点为绕所述金属基准轴转动90度在所述金属基准轴上的点。

6.根据权利要求5所述非金属轴的膜厚测量方法，其特征在于，在测定金属基准轴的膜厚步骤中，以涡电流测量所述金属基准轴三个截面位置的点，取其测量所得膜厚均值。

7.一种非金属轴的膜厚测量系统，其特征在于，包括待测定非金属轴、金属基准轴、涡电流测量机、形成膜层的涂液、膜厚获取模块，所述金属基准轴和所述待测定非金属轴的大小、形状相同，将所述金属基准轴浸入所述涂液中按待测定非金属轴在所述涂液中涂布程序进行涂布，在所述金属基准轴表面形成膜层；在所述涡电流测量机上选定所述金属基准轴上至少一点以涡电流测量法测量其膜厚，获取测定所述金属基准轴膜厚的涡电流；显微镜观测数据与涡电流测定仪测出的数据存在强相关性时，根据涡电流与所述待测非金属轴的关系：y=1.7976 x + 0.1505，其中：y表示所述非金属轴的膜厚，x表示涡电流，所述膜厚获取模块获取待测非金属轴的膜厚。

8.根据权利要求7所述非金属轴的膜厚测量系统，其特征在于，还包括多点测量模块，所述多点测量模块测量所述金属基准轴多个位置的膜厚，获取其平均膜厚以及平均涡电流。

9.根据权利要求7所述非金属轴的膜厚测量系统，其特征在于，所述非金属轴为橡胶轴。