[发明专利]系统运算性能测试方法及装置

摘要

本发明实施例提供的一种系统运算性能测试方法及装置，可以使用至少两种测试模式对电子设备进行测试，并根据各测试模式的模式测试结果计算得到系统运算性能的测试结果。由于不同的测试模式的针对性不同，因此本发明可以更全面的对电子设备的系统运算性能进行测试，所得到的测试结果也更加准确。

主权项

一种系统运算性能测试方法，其特征在于，运行于电子设备中，所述方法包括：接收用户的测试指令；根据所述测试指令使用至少两种测试模式对所述电子设备进行测试，获得所述至少两种测试模式中的各测试模式对应的模式测试结果，所述模式测试结果包括CPU整型运算性能测试结果和CPU浮点运算性能测试结果；对所述各测试模式对应的模式测试结果进行数学运算处理，将所述数学运算处理后得到的结果作为系统运算性能的测试结果；将所述系统运算性能的测试结果告知用户；其中：所述至少两种测试模式中的各测试模式通过启动线程执行算法而获得模式测试结果；所述至少两种测试模式中包括单算法有序测试模式，所述至少两种测试模式中还包括单算法无序测试模式、多算法有序测试模式和多算法无序测试模式中的至少一个测试模式；所述单算法有序测试模式下，控制所述电子设备同时启动执行相同算法的多个线程；所述单算法无序测试模式下，控制所述电子设备在不同时刻分别启动执行相同算法的多个线程；所述多算法有序测试模式下，控制所述电子设备同时启动执行不同算法的多个线程；所述多算法无序测试模式下，控制所述电子设备在不同时刻分别启动执行不同算法的多个线程。