[发明专利]系统运算性能测试方法及装置

权利要求书

1.一种系统运算性能测试方法，其特征在于，运行于电子设备中，所述方法包括：

接收用户的测试指令；

根据所述测试指令使用至少两种测试模式对所述电子设备进行测试，获得所述至少两种测试模式中的各测试模式对应的模式测试结果，所述模式测试结果包括CPU整型运算性能测试结果和CPU浮点运算性能测试结果；

对所述各测试模式对应的模式测试结果进行数学运算处理，将所述数学运算处理后得到的结果作为系统运算性能的测试结果；

将所述系统运算性能的测试结果告知用户；

其中：

所述至少两种测试模式中的各测试模式通过启动线程执行算法而获得模式测试结果；

所述至少两种测试模式中包括单算法有序测试模式，所述至少两种测试模式中还包括单算法无序测试模式、多算法有序测试模式和多算法无序测试模式中的至少一个测试模式；

所述单算法有序测试模式下，控制所述电子设备同时启动执行相同算法的多个线程；

所述单算法无序测试模式下，控制所述电子设备在不同时刻分别启动执行相同算法的多个线程；

所述多算法有序测试模式下，控制所述电子设备同时启动执行不同算法的多个线程；

所述多算法无序测试模式下，控制所述电子设备在不同时刻分别启动执行不同算法的多个线程。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述单算法有序测试模式下，每个线程执行同一种算法至少两次；

和/或

所述单算法无序测试模式下，每个线程执行同一种算法至少两次；

和/或

所述多算法有序测试模式下，每个线程执行同一种算法至少两次；

和/或

所述多算法无序测试模式下，每个线程执行同一种算法至少两次。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，

所述单算法有序测试模式下：

在所述多个线程全部运行完毕后，根据所述多个线程对应的测试结果，计算测试误差值；

确定所述计算的误差值是否大于预设的第一阈值；

如果否，根据所述多个线程对应的测试结果，确定所述单算法有序测试模式的模式测试结果；

如果是，重新控制所述电子设备同时启动执行相同算法的所述多个线程以进行重新测试；

或者

在所述多个线程全部运行完毕后，根据所述多个线程对应的测试结果，计算测试误差值；

确定所述计算的误差值是否大于预设的第一阈值；

如果否，根据所述多个线程对应的测试结果，确定所述单算法有序测试模式的模式测试结果；

如果是，确定所述“控制所述电子设备同时启动执行相同算法的多个线程”的次数，如果所述次数小于预设的第二阈值时，重新控制所述电子设备同时启动执行相同算法的所述多个线程以进行重新测试。

4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，

所述单算法无序测试模式下：

在所述多个线程全部运行完毕后，根据所述多个线程对应的测试结果，计算测试误差值；

确定所述计算的误差值是否大于预设的第三阈值；

如果否，根据所述多个线程对应的测试结果，确定所述单算法无序测试模式的模式测试结果；

如果是，重新控制所述电子设备在不同时刻分别启动执行相同算法的所述多个线程以进行重新测试；

或者

在所述多个线程全部运行完毕后，根据所述多个线程对应的测试结果，计算测试误差值；

确定所述计算的误差值是否大于预设的第三阈值；

如果否，根据所述多个线程对应的测试结果，确定所述单算法无序测试模式的模式测试结果；

如果是，确定所述“控制所述电子设备在不同时刻分别启动执行相同算法的多个线程”的次数，如果所述次数小于预设的第四阈值，重新控制所述电子设备在不同时刻分别启动执行相同算法的所述多个线程以进行重新测试。