[发明专利]接触式CPU芯片生产测试方法有效
| 申请号： | 201310533597.1 | 申请日： | 2013-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN104598350A | 公开（公告）日： | 2015-05-06 |
| 发明（设计）人： | 崔丽华 | 申请（专利权）人： | 上海华虹集成电路有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 戴广志 |
| 地址： | 201203 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种接触式CPU芯片生产测试方法，接触式CPU芯片上电后，首先判断该接触式CPU芯片处于何种模式；如果为非测试模式，则直接进入应用模式，此时接触式CPU芯片仍采用内部时钟作为其工作时钟；如果为测试模式，则测试接触式CPU芯片所有功能；此时接触式CPU芯片同样采用内部时钟作为其工作时钟，测试后的结果保存在SRAM中；完成功能测试后，再将接触式CPU芯片的工作频率切换到外部频率，并对测试结果数据进行比对，如果和预期值一致，则通过，否则为失败。本发明能够降低测试成本，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 接触 cpu 芯片 生产 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种接触式CPU芯片生产测试方法，其特征在于：接触式CPU芯片上电后，首先判断该接触式CPU芯片处于何种模式；如果为非测试模式，则直接进入应用模式，此时接触式CPU芯片仍采用内部时钟作为其工作时钟；如果为测试模式，则测试接触式CPU芯片所有功能；此时接触式CPU芯片同样采用内部时钟作为其工作时钟，测试后的结果保存在SRAM中；完成功能测试后，再将接触式CPU芯片的工作频率切换到外部频率，并对测试结果数据进行比对，如果和预期值一致，则通过，否则为失败。
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