[发明专利]产生包含标准单元及存储器实例的集成电路布图的方法有效

专利信息
申请号: 201310499953.2 申请日: 2013-10-22
公开(公告)号: CN103778273B 公开(公告)日: 2017-09-22
发明(设计)人: 格斯·杨;马丁·杰·金卡德;马林·维尼·小弗雷德里克 申请(专利权)人: ARM有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司11258 代理人: 李晓冬
地址: 英国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供产生包含标准单元及存储器实例的集成电路布图的方法。存储器编译器具有指定电路组件和数据的定义的存储器架构。接收指定所欲存储器实例的特性的输入数据。随后使用存储器编译器以基于输入数据使用指定存储器架构产生所欲存储器实例。提供其内部的每一标准单元定义对应功能组件的标准单元库。在操作的整合增强模式中,存储器编译器引用标准单元库的特性以这样的形式产生所欲存储器实例该形式在所欲存储器实例被整合至布图中时减小与该存储器实例的边界相关联的面积开销。随后通过从标准单元库中选择的标准单元填充标准单元行来产生布图以提供所需功能组件,并将所欲存储器实例整合至布图中。从而提供产生集成电路布图的面积高效机制。
搜索关键词: 产生 包含 标准 单元 存储器 实例 集成电路 方法
【主权项】:
一种产生集成电路布图的方法,所述布图包含标准单元及至少一个存储器实例,所述标准单元定义所述集成电路的功能组件,所述至少一个存储器实例由存储器编译器产生以定义所述集成电路的存储器设备,该方法包含以下步骤:向所述存储器编译器提供指定了电路元件和数据的定义的存储器架构,所述定义定义了用于组合这些电路元以便产生符合所述存储器架构的存储器实例的规则;接收指定了所欲存储器实例的一个或多个特性的输入数据;使用所述存储器编译器以基于所述输入数据产生所述所欲存储器实例,以使得所述所欲存储器实例符合所述存储器架构;提供标准单元库,所述标准单元库内的每个标准单元定义了相应的功能组件;在所述存储器编译器的集成增强操作模式中,使得所述存储器编译器引用所述标准单元库的至少一个特性以便以如下形式产生所述所欲存储器实例,所述形式在所述所欲存储器实例被集成到所述布图中时将减小与所述所欲存储器实例和周围标准单元之间的边界相关联的面积开销;以及通过利用从所述标准单元库中选择的标准单元填充在第一方向上延伸的标准单元行以便提供所述集成电路所需的所述功能组件来产生所述布图,并将由所述存储器编译器提供的所述所欲存储器实例集成至所述布图中。
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