[发明专利]基于光刻胶的临时键合及去键合的方法有效
申请号: | 201310491592.7 | 申请日: | 2013-10-21 |
公开(公告)号: | CN103617944A | 公开(公告)日: | 2014-03-05 |
发明(设计)人: | 赵岩;程伟;吴璟 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第五十五研究所 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/60 |
代理公司: | 南京君陶专利商标代理有限公司 32215 | 代理人: | 沈根水 |
地址: | 210016 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明是一种基于光刻胶(ProLIFT100)的临时键合及去键合的方法,其特征是包括临时键合及去键合。优点是:GaAs、GaN等化合物半导体晶圆加工的一些关键工艺如背面金属化、背面通孔的刻蚀等步骤在200摄氏度以上高温下进行可获得更好的效果,而ProLIFT100能够耐受超过300摄氏度的高温,可以同时起到圆片正面图形保护和粘片粘附剂的作用,因此非常适合在半导体背面工艺中用于与载片的临时键合。另外利用旋涂甩胶的方式进行键合过渡层的涂敷,平整度和均匀性都非常好,工艺简单、重复性好;并且整个过程不会对临时载片造成磨损、沾污等伤害,可以循环使用;去键合过程简单易行,不需要外加机械力的作用,能够大大减少碎片的概率。 | ||
搜索关键词: | 基于 光刻 临时 去键合 方法 | ||
【主权项】:
一种基于光刻胶(ProLIFT100)的临时键合及去键合的方法,其特征是包括临时键合及去键合,其中临时键合的步骤,包括1)用质量浓度为10%的盐酸清洗半导体圆片和临时载片表面,再用去离子水进行冲洗,去除表面沾污,然后放入烘箱烘干圆片表面的水分,保证圆片表面干爽无污染,临时载片是玻璃片或蓝宝石;2)在半导体圆片和临时载片的正面分别旋涂光刻胶(ProLIFT100)作为临时键合过渡层,转速1000rpm‑5000rpm,时间为60秒;3)保持半导体圆片和临时载片的正面朝上,在烘箱中烘烤30分钟,烘箱温度应不低于220摄氏度;4)待半导体圆片和临时载片在室温下自然冷却后,将半导体圆片和临时载片正面相对在温度为250摄氏度、真空度小于5mbar、压力大于4000N的条件下进行粘片;去键合方法,包括以下步骤:1)清洗半导体圆片和临时载片表面;2)将圆片浸泡在正性显影液中;3)待光刻胶(ProLIFT100)溶解后半导体圆片和临时载片将自动分离;4)将半导体圆片小心夹起并清洗干净。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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