[发明专利]一种甚大规模集成电路版图层次比较工具的单元切分预处理方法有效
申请号: | 201310478185.2 | 申请日: | 2013-10-14 |
公开(公告)号: | CN104572658B | 公开(公告)日: | 2018-06-22 |
发明(设计)人: | 戴斌华;于士涛;王国庆;路艳芳 | 申请(专利权)人: | 北京华大九天软件有限公司 |
主分类号: | G06F17/30 | 分类号: | G06F17/30 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100102 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种甚大规模集成电路版图层次比较工具的单元切分预处理方法,属于半导体集成电路设计白动化领域,主要用于后端设计时比较甚大规模集成电路版图间的差异。本预处理方法将层次版图中降低比较效率的大单元内部转换为较小单元,提高了层次版图差异比较的效率。其实现过程为:对版图中的每个大单元在X方向和Y方向同时作切分:根据本单元的大小决定X和Y方向切分线的总数Nx和N y;切分为(N x+1)X(Ny+1)块数据,对应的新建(Nx+1)X(Ny+1)个伪子单元,将每块数据存入伪单元中:将大单元中的原始数据清空,重新插入(Nx+1)X(Ny+1)个引用伪子单元的实例。 | ||
搜索关键词: | 甚大规模集成电路 预处理 大单元 层次版图 子单元 半导体集成电路 差异比较 原始数据 块数据 伪单元 小单元 清空 引用 转换 | ||
【主权项】:
1.一种集成电路版图层次比较工具的单元切分预处理方法,将层次版图中降低了比较效率的大单元转换为多个小单元,提高了层次版图差异比较的效率,其特征在于:对版图中的每个大单元在X方向和Y方向同时作切分;根据所述大单元的大小决定X和Y方向切分线的总数Nx和Ny;切分为(Nx+1)×(Ny+1)块数据,对应的新建(Nx+1)×(Ny+1)个伪子单元,将每块数据存入所述伪子单元中;将所述大单元中的原始数据清空,重新插入(Nx+1)×(Ny+1)个引用伪子单元实例;对大单元做切分时,切分图形的步骤为:当图形不跨越任何切分线时,直接放入对应的伪子单元中;当图形跨越多个切分线时,将该图形与切分线围成的矩形区域做几何AND操作进行切割,该图形被切割后的各部分图形,放入对应的伪子单元中。
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