[发明专利]基于特征值度量谱聚类的极化SAR图像分割方法有效

专利信息
申请号: 201310374468.2 申请日: 2013-08-23
公开(公告)号: CN103426175A 公开(公告)日: 2013-12-04
发明(设计)人: 缑水平;焦李成;杜芳芳;马文萍;马晶晶;侯彪 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 王品华;朱红星
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于特征值度量谱聚类的极化SAR图像分割方法。主要解决现有极化SAR图像分割过程中参数多难以自适应调节的问题。其实现过程是:(1)对极化SAR图像进行特征值分解,构成特征样本集x;(2)对每个像素求其8邻域的三个特征值对应的均值,构造平均特征样本集(3)利用马氏距离对特征样本集x和平均特征样本集分别构造相似度矩阵,根据这两个相似度矩阵得到混合相似度矩阵w′;(4)对混合相似度矩阵w′,通过谱聚类算法得到聚类标签C1;(5)重复步骤(3)-(4),对得到的类标签集合利用MCLA算法进行集成,得到最终分割结果。本发明具有自适应性强,复杂度低,分割结果更加细致精确的优点,可用于极化SAR图像的目标检测和目标识别。
搜索关键词: 基于 特征值 度量 谱聚类 极化 sar 图像 分割 方法
【主权项】:
1.一种基于特征值度量谱聚类的极化SAR图像分割方法,包括如下步骤:(1)读入极化SAR图像G,得到极化SAR图像G的总样本集X和极化SAR图像G的极化相干矩阵集合T={Ti|i=1,...,M},其中M是极化SAR图像G包含的像素点数;(2)对第i个像素点的极化相干矩阵Ti进行特征值分解,得到第i个像素点的特征值集合i=1,...,M,其中,表示第i个像素点的第一个特征值,表示第i个像素点的第二个特征值,表示第i个像素点的第三个特征值;(3)求第i个像素点的8邻域第一个特征值对应的均值求第i个像素点的8邻域第二个特征值对应的均值求第i个像素点的8邻域第三个特征值对应的均值得到第i像素点的平均特征值集合i=1,...,M;(4)从极化SAR图像G的总样本集X中随机采样m个像素点构成样本子集Xm,由样本子集Xm的特征值集合构成特征样本集再由样本子集Xm的平均特征值集合构成平均特征样本集(5)对样本子集Xm中第j个像素点的特征值集合利用马氏距离构造相似度矩阵wjwj=(xmj-xmp)T·C-1·(xmj-xmp),]]>p=1,...,m,其中,表示样本子集Xm中第j个像素点的特征值集合,表示样本子集Xm中第p个像素点的特征值集合,C是特征样本集xm的协方差矩阵;(6)根据样本子集Xm中第j个像素点的相似度矩阵wj,构造样本子集Xm的相似度矩阵w:w=[w1,...,wj,...,wm];(7)对样本子集Xm中第j个像素点的平均特征值集合利用马氏距离来构造平均相似度矩阵wj=(xmj-xmp)T·C-1·(xmj-xmp),]]>p=1,...,m,其中,表示样本子集Xm中第j个像素点的平均特征值集合,表示样本子集Xm中第p个像素点的平均特征值集合,是平均特征样本集的协方差矩阵;(8)根据样本子集Xm中第j个像素点的平均相似度矩阵构造样本子集Xm的平均相似度矩阵w=[w1,...,wj,...,wm];]]>(9)对相似度矩阵w和平均相似度矩阵加权得到样本子集Xm的混合相似度矩阵w′:w=w+α·w,]]>其中,α表示权值;(10)对样本子集Xm的混合相似度矩阵w′,通过逼近求出总样本集X的相似度矩阵W,计算相似性矩阵W的拉普拉斯矩阵L,对拉普拉斯矩阵L进行特征值分解,得到拉普拉斯矩阵L的特征向量Y;(11)对特征向量Y的前k维进行K均值聚类,得到聚类标签C1,其中k是给定的类别数;(12)重复步骤(4)到(11)共5次,得到聚类标签集合Π={C1,C2,...,C5};对该聚类标签集合Π利用MCLA算法进行集成,得到最终标签Z,即为极化SAR图像G的分割结果。
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