[发明专利]显示器件的缺陷检测方法及显示器件的缺陷检测装置有效
| 申请号： | 201310364410.X | 申请日： | 2008-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN103499588A | 公开（公告）日： | 2014-01-08 |
| 发明（设计）人： | 奈良圭;浜田智秀 | 申请（专利权）人： | 株式会社尼康 |
| 主分类号： | G01N21/892 | 分类号： | G01N21/892 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 李洋;杨林森 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种显示器件（50）的缺陷检测方法及显示器件的缺陷检测装置，可以判定是能够在修理线中修正的缺陷还是必须停止生产线的缺陷。显示器件的缺陷检测方法具备：对显示器件的每个局部区域计测特征量（P32），基于计测出的区域的特征量计数判定为缺陷区域的区域的缺陷计数步骤（P36）；在缺陷计数步骤中缺陷数大于第一阈值的情况下，停止显示器件的生产线的步骤（P38、P42）；在缺陷计数步骤中缺陷数小于第一阈值的情况下，计算给定面积内的缺陷密度的缺陷密度计算步骤（P38）；在缺陷密度计算步骤中缺陷密度大于第二阈值的情况下，停止显示器件的生产线的步骤（P40、P42）。 | ||
| 搜索关键词： | 显示 器件 缺陷 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种缺陷检测方法，是由多个像素构成且被形成于挠曲性的薄片基板的显示器件的缺陷检测方法，其特征在于，具备：对所述显示器件的每个局部区域计测特征量，基于计测出的区域的特征量对被判定为缺陷区域的区域进行计数的缺陷计数步骤；当在所述缺陷计数步骤中缺陷数大于第一阈值的情况下，停止所述显示器件的生产线的步骤；当在所述缺陷计数步骤中缺陷数小于第一阈值的情况下，计算给定面积内的缺陷密度的缺陷密度计算步骤；当在所述缺陷密度计算步骤中缺陷密度大于第二阈值的情况下，停止所述显示器件的生产线的步骤。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社尼康，未经株式会社尼康许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310364410.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
