[发明专利]光电响应测量装置有效
| 申请号： | 201310340828.7 | 申请日： | 2013-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN104345258B | 公开（公告）日： | 2017-08-01 |
| 发明（设计）人： | 孟庆波;李春辉;吴会觉;罗艳红;李冬梅 | 申请（专利权）人： | 中国科学院物理研究所 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司11280 | 代理人： | 王勇 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种光电响应测量装置，包括斩波装置，所述斩波装置位于入射光和待测样品的光路之间；电流‑电压转换装置，所述电流‑电压转换装置和所述待测样品电连接，用于将所述待测样品的短路电流转换为与所述短路电流对应的电压；数据采集卡，所述数据采集卡和所述电流‑电压转换装置电连接，用于测得与所述短路电流对应的电压的电压值；斩波控制电路，所述斩波控制电路与所述斩波装置和所述数据采集卡电连接，所述数据采集卡用于输出时钟信号至所述斩波控制电路，所述斩波控制电路根据所述时钟信号控制所述斩波装置以与所述时钟信号相应的频率开启和关闭。本发明的光电响应测量装置能够快速准确的测量半导体材料的响应光电流。 | ||
| 搜索关键词： | 光电 响应 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种光电响应测量装置，其特征在于，包括：斩波装置，所述斩波装置位于入射光和待测样品的光路之间；电流‑电压转换装置，所述电流‑电压转换装置和所述待测样品电连接，用于将所述待测样品的短路电流转换为与所述短路电流对应的电压；数据采集卡，所述数据采集卡和所述电流‑电压转换装置电连接，用于测得与所述短路电流对应的电压的电压值；斩波控制电路，所述斩波控制电路与所述斩波装置和所述数据采集卡电连接，所述数据采集卡用于输出时钟信号至所述斩波控制电路，所述斩波控制电路根据所述时钟信号控制所述斩波装置以与所述时钟信号相应的频率开启和关闭，且所述斩波装置的开启和关闭之间的时间间隔大于所述待测样品的光电响应时间。
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