[发明专利]光电响应测量装置有效

专利信息
申请号: 201310340828.7 申请日: 2013-08-07
公开(公告)号: CN104345258B 公开(公告)日: 2017-08-01
发明(设计)人: 孟庆波;李春辉;吴会觉;罗艳红;李冬梅 申请(专利权)人: 中国科学院物理研究所
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 北京泛华伟业知识产权代理有限公司11280 代理人: 王勇
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 光电 响应 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种光电响应测量装置,其特征在于,包括:

斩波装置,所述斩波装置位于入射光和待测样品的光路之间;

电流-电压转换装置,所述电流-电压转换装置和所述待测样品电连接,用于将所述待测样品的短路电流转换为与所述短路电流对应的电压;

数据采集卡,所述数据采集卡和所述电流-电压转换装置电连接,用于测得与所述短路电流对应的电压的电压值;

斩波控制电路,所述斩波控制电路与所述斩波装置和所述数据采集卡电连接,所述数据采集卡用于输出时钟信号至所述斩波控制电路,所述斩波控制电路根据所述时钟信号控制所述斩波装置以与所述时钟信号相应的频率开启和关闭,且所述斩波装置的开启和关闭之间的时间间隔大于所述待测样品的光电响应时间。

2.根据权利要求1所述的光电响应测量装置,其特征在于,还包括控制装置,所述控制装置和所述数据采集卡电连接,所述数据采集卡根据所述控制装置输出的时钟产生信号而输出所述时钟信号。

3.根据权利要求2所述的光电响应测量装置,其特征在于,还包括单色仪,所述单色仪位于入射光和所述斩波装置的光路之间,并与所述控制装置电连接,所述单色仪根据所述控制装置输出的波长控制信号而射出与所述波长控制信号相对应的波长的光线。

4.根据权利要求1所述的光电响应测量装置,其特征在于,还包括样品台,所述待测样品位于所述样品台上。

5.根据权利要求4所述的光电响应测量装置,其特征在于,还包括第一透镜组,所述第一透镜组位于所述斩波装置和所述样品台之间,用于将入射到第一透镜组的光线会聚到所述待测样品上。

6.根据权利要求1所述的光电响应测量装置,其特征在于,还包括偏光光源,所述偏光光源发射的光线入射到所述待测样品上。

7.根据权利要求6所述的光电响应测量装置,其特征在于,还包括第二透镜组,所述第二透镜组位于所述偏光光源和所述待测样品的光路之间,用于将所述偏光光源发射的光线会聚到所述待测样品上。

8.根据权利要求1至7任一项所述的光电响应测量装置,其特征在于,所述斩波装置为快门或斩波轮。

9.根据权利要求1至7任一项所述的光电响应测量装置,其特征在于,所述斩波装置开启和关闭的频率为0.2Hz-10Hz。

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