[发明专利]测试控制装置有效

专利信息
申请号: 201310337254.8 申请日: 2013-08-05
公开(公告)号: CN103399499A 公开(公告)日: 2013-11-20
发明(设计)人: 余廷义;王晓峰 申请(专利权)人: 深圳深爱半导体股份有限公司
主分类号: G05B19/04 分类号: G05B19/04;G01R31/26
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 吴平
地址: 518118 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明所公开的一种测试控制装置,包括:检测模块,包括受控开关的控制端,用于在测试对象到位时控制所述受控开关的受控端闭合;测试信号发送模块,包括所述受控端,用于在所述受控端闭合后通过测试使能信号输出端发送测试使能信号;测试模块,用于在接收到测试使能信号时开始对测试对象进行测试;所述测试信号发送模块还包括延时电阻和延时电容,所述延时电阻与所述受控端串联连接,串联支路两端分别连接所述延时电容的两端,所述延时电容一端接地,另一端连接所述测试使能信号输出端和测试信号发送模块的电源输入端。上述测试控制装置,使用延时电阻和延时电容组成的RC电路代替现有的时间继电器,不再使用时间继电器,降低了生产成本。
搜索关键词: 测试 控制 装置
【主权项】:
一种测试控制装置,包括:检测模块,包括受控开关的控制端,用于在测试对象到位时控制所述受控开关的受控端闭合;测试信号发送模块,包括所述受控端,用于在所述受控端闭合后通过测试使能信号输出端发送测试使能信号;测试模块,用于在接收到测试使能信号时开始对测试对象进行测试;其特征在于,所述测试信号发送模块还包括延时电阻和延时电容,所述延时电阻与所述受控端串联连接,串联支路两端分别连接所述延时电容的两端,所述延时电容一端接地,另一端连接所述测试使能信号输出端和测试信号发送模块的电源输入端。
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