[发明专利]测试控制装置有效
申请号: | 201310337254.8 | 申请日: | 2013-08-05 |
公开(公告)号: | CN103399499A | 公开(公告)日: | 2013-11-20 |
发明(设计)人: | 余廷义;王晓峰 | 申请(专利权)人: | 深圳深爱半导体股份有限公司 |
主分类号: | G05B19/04 | 分类号: | G05B19/04;G01R31/26 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 吴平 |
地址: | 518118 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明所公开的一种测试控制装置,包括:检测模块,包括受控开关的控制端,用于在测试对象到位时控制所述受控开关的受控端闭合;测试信号发送模块,包括所述受控端,用于在所述受控端闭合后通过测试使能信号输出端发送测试使能信号;测试模块,用于在接收到测试使能信号时开始对测试对象进行测试;所述测试信号发送模块还包括延时电阻和延时电容,所述延时电阻与所述受控端串联连接,串联支路两端分别连接所述延时电容的两端,所述延时电容一端接地,另一端连接所述测试使能信号输出端和测试信号发送模块的电源输入端。上述测试控制装置,使用延时电阻和延时电容组成的RC电路代替现有的时间继电器,不再使用时间继电器,降低了生产成本。 | ||
搜索关键词: | 测试 控制 装置 | ||
【主权项】:
一种测试控制装置,包括:检测模块,包括受控开关的控制端,用于在测试对象到位时控制所述受控开关的受控端闭合;测试信号发送模块,包括所述受控端,用于在所述受控端闭合后通过测试使能信号输出端发送测试使能信号;测试模块,用于在接收到测试使能信号时开始对测试对象进行测试;其特征在于,所述测试信号发送模块还包括延时电阻和延时电容,所述延时电阻与所述受控端串联连接,串联支路两端分别连接所述延时电容的两端,所述延时电容一端接地,另一端连接所述测试使能信号输出端和测试信号发送模块的电源输入端。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳深爱半导体股份有限公司,未经深圳深爱半导体股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310337254.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。