[发明专利]测试控制装置

说明书

技术领域

本发明涉及测试技术，特别是涉及一种测试控制装置。

背景技术

晶体管是一种固体半导体器件，可以用于检波、整流、放大、开关、稳压、信号调制和许多其它功能。晶体管的应用领域不断扩大，对晶体管进行相应性能测试也显得尤为重要。

一种传统的自制手动测试装置主要由继电器和时间继电器组合使用达到手动测试控制的目的。经过使用发现，测试部分会受到继电器和时间继电器触点抖动的影响，特别是在继电器和时间继电器质量一般的情况下，开关次数达几万次后，这种影响更为明显。正常情况下，继电器开关动作一次，接测试控制输入端输出一次低电平，但受到以上情况影响时，继电器开关动作一次，可能向测试部分输入两次或者以上低电平，造成测试部分的重复测试。

发明内容

基于此，有必要针对传统的测试装置使用过程中测试部分会受到继电器和时间继电器触点抖动的影响造成重复测试这一问题，提供一种测试控制装置。

一种测试控制装置，包括：检测模块，包括受控开关的控制端，用于在测试对象到位时控制所述受控开关的受控端闭合；测试信号发送模块，包括所述受控端，用于在所述受控端闭合后通过测试使能信号输出端发送测试使能信号；测试模块，用于在接收到测试使能信号时开始对测试对象进行测试；所述测试信号发送模块还包括延时电阻和延时电容，所述延时电阻与所述受控端串联连接，串联支路两端分别连接所述延时电容的两端，所述延时电容一端接地，另一端连接所述测试使能信号输出端和测试信号发送模块的电源输入端。

在其中一个实施例中，所述受控开关是继电器，所述控制端是所述继电器的线圈，所述受控端是继电器的常开触点。

在其中一个实施例中，还包括照明模块，所述继电器还包括常闭触点，所述照明模块包括所述常闭触点及与所述常闭触点串联的照明灯。

在其中一个实施例中，所述电容的放电时间大于所述照明灯从所述常闭触点打开到完全熄灭所需要的时间。

在其中一个实施例中，所述电容的放电时间为60毫秒。

在其中一个实施例中，所述受控端闭合后电路达到稳定状态时所述测试使能信号输出端的电压小于或等于0.6伏特。

在其中一个实施例中，所述电压小于或等于0.4伏特。

在其中一个实施例中，所述测试使能信号输出端和测试信号发送模块的电源输入端之间还接有外接电阻。

在其中一个实施例中，所述延时电阻为可调电阻。

在其中一个实施例中，所述测试控制装置是晶体管测试控制装置，所述测试对象是硅片。

上述测试控制装置，使用延时电阻和延时电容组成的RC电路代替现有的时间继电器，不再使用时间继电器，降低了生产成本。同时，本测试控制装置由于RC电路的放电时间显著大于受控开关的抖动时间，只有当受控端闭合后电路达到稳定状态后，测试信号发送模块才向测试模块发送测试使能信号，即一个低电平，让其对测试对象进行测试，因此能够有效避免由于受控开关受控端抖动造成测试模块进行重复测试这一问题。

附图说明

图1为一实施例中测试控制装置的电路框图；

图2为图1的测试控制装置的电路原理图。

具体实施方式

本发明针对传统的测试装置使用过程中测试部分会受到继电器和时间继电器触点抖动的影响造成重复测试这一问题，提供一种测试控制装置。

如图1所示，本发明测试控制装置包括检测模块110，测试信号发送模块120，照明模块130，测试模块140。

检测模块110包括受控开关的控制端，用于在测试对象到位时控制受控开关的受控端闭合。

测试信号发送模块120包括所述受控端、延时电阻，延时电容，延时电阻与受控端串联连接，串联支路两端分别连接延时电容的两端，延时电容一端接地，另一端连接测试使能信号输出端和测试信号发送模块120的电源输入端。测试信号发送模块120在受控端闭合电路达到稳定状态后向测试模块140发送测试使能信号，让其对测试对象进行测试。

照明模块130包括照明灯，在测试对象未到位时，为测试控制装置提供照明；当测试对象到位后，照明灯熄灭，避免照明灯的灯光影响某些测试参数的准确性。

测试模块140连接于测试信号发送模块120，用于在接收到测试使能信号时开始对测试对象进行测试。

下面结合图2对本测试控制装置作进一步详细说明。