[发明专利]一种以Bi2Se3薄膜为接触层的硅肖特基结及制备方法有效

专利信息
申请号: 201310335909.8 申请日: 2013-08-05
公开(公告)号: CN103390640A 公开(公告)日: 2013-11-13
发明(设计)人: 李含冬;高磊;李辉;王高云;罗思源;任武洋;艾远飞;巫江;周志华;王志明 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L29/47 分类号: H01L29/47;H01L21/28;H01L31/0224
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 谢敏
地址: 610000 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种以Bi2Se3薄膜为接触层的硅肖特基结及制备方法,硅肖特基结包括Si基片,所述Si基片的上部设有Bi2Se3肖特基接触层,Si基片的底部设有欧姆接触背电极,所述Bi2Se3肖特基接触层上设有欧姆接触电极,Bi2Se3肖特基接触层与欧姆接触电极之间设有粘接层,所述粘接层由Cr或Ti制成。本发明采用上述结构,能够使Bi2Se3与n型Si之间构成了稳定的肖特基结,另外,粘接层能使Bi2Se3单晶薄片与Si片有效地粘贴在一起,适于规模化生产,且异质结界面的质量能够得到保证。
搜索关键词: 一种 bi sub se 薄膜 接触 硅肖特基结 制备 方法
【主权项】:
一种以Bi2Se3薄膜为接触层的硅肖特基结,其特征在于:包括Si基片(2),所述Si基片(2)的上部设有Bi2Se3肖特基接触层(1),Si基片(2)的底部设有欧姆接触背电极(3),所述Bi2Se3肖特基接触层(1)上设有欧姆接触电极(4),Bi2Se3肖特基接触层(1)与欧姆接触电极(4)之间设有粘接层,所述粘接层由Cr或Ti制成。
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