[发明专利]用于样品光热研究的设备和方法无效
| 申请号： | 201310329059.0 | 申请日： | 2013-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN103575722A | 公开（公告）日： | 2014-02-12 |
| 发明（设计）人： | M·布鲁纳;J·布卢姆;T·登纳;R·坎贝尔;T·希尔帕特;M·吉普哈德;S·劳特巴赫;A·斯特劳贝尔;J·茨乔佩尔;M·斯乔德尔;A·林德曼;A·哈廷格尔 | 申请（专利权）人： | 耐驰-仪器制造有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/66 | 分类号： | G01N21/66 |
| 代理公司： | 北京市路盛律师事务所 11326 | 代理人： | 汪勤 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于样品(12)的光热研究的装置(10)，该装置带有用于产生指向样品(12)的激励面的电磁激励射束(18)的激励源(14，20，22)，用于检测由样品(12)的检测面发射出的热辐射(26)的探测器(28)，和温度可控制的样品腔(36)，该样品腔包括容纳在其中的样品保持器(13)，用于样品(12)的放置和温度控制。根据本发明，作出了这样的设置，使得可调节的检测光学系统(32)设置在样品保持器(13)和探测器(28)之间，所述检测光学系统是可调节的，以调节在样品表面上的探测器(28)的期望视域。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 样品 光热 研究 设备 方法 | ||
【主权项】：
用于光热研究样品(12)的装置(10)，该装置带有用于产生指向样品(12)的激励面的电磁激励射束(18)的激励源(14，20，22)，用于检测由样品(12)的检测面发射出的热辐射(26)的探测器(28)，和温度可控制的样品腔(36)，该样品腔包括容纳在其中的样品保持器(13)，用于样品(12)的放置和温度控制，其特征在于：可调节的检测光学系统设置在样品保持器(13)和探测器(28)之间，所述光学系统是可调节的，以便以这种方式调节探测器(28)在样品表面上的视域，即，根据对该光学系统的调节，待研究的样品(12)的检测面的全部或仅仅一部分可选择地位于探测器(28)的视域中。
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