[发明专利]用于样品光热研究的设备和方法

权利要求书

1.用于光热研究样品(12)的装置(10)，该装置带有用于产生指向样品(12)的激励面的电磁激励射束(18)的激励源(14，20，22)，用于检测由样品(12)的检测面发射出的热辐射(26)的探测器(28)，和温度可控制的样品腔(36)，该样品腔包括容纳在其中的样品保持器(13)，用于样品(12)的放置和温度控制，

其特征在于：可调节的检测光学系统设置在样品保持器(13)和探测器(28)之间，所述光学系统是可调节的，以便以这种方式调节探测器(28)在样品表面上的视域，即，根据对该光学系统的调节，待研究的样品(12)的检测面的全部或仅仅一部分可选择地位于探测器(28)的视域中。

2.根据权利要求1所述的装置(10)，其中，在两个维度上延伸的样品(12)的第一平坦面(16)设置为激励面，并且样品(12)背朝第一平坦面的第二平坦面(24)设置为检测面。

3.根据权利要求1或2所述的装置(10)，其中检测光学系统包括至少一个折射光学元件(32)。

4.根据前述权利要求的任一项所述的装置(10)，其中可调节的检测光学系统构造为该检测光学系统的至少一个光学元件(32)能够由至少另一个光学元件替换。

5.根据前述权利要求的任一项所述的装置(10)，其中设置有线性驱动器，通过该线性驱动器能够改变在检测光学系统的光学元件(32)和样品(12)之间的距离，和/或改变在检测光学系统的光学元件(32)和探测器(28)之间的距离。

6.根据前述权利要求的任一项所述的装置(10)，其中温度可控制的样品腔(36)构造为能够对样品温度超过300℃，尤其是超过400℃的样品(12)进行温度控制。

7.根据前述权利要求的任一项所述的装置(10)，其中样品保持器(13)设计用于在样品腔(36)中同时放置多个样品(12，12′)，和用于选择的装置，在每种情况下，该用于选择的装置选择这些样品中的一个作为当前待研究的样品(12)。

8.用于光热研究样品(12)的方法，其中电磁激励射束(18)指向样品(12)的激励面，且由样品(12)的检测面发射出的热辐射(26)由探测器(28)检测，其中在容纳于温度可控制的样品腔(36)中的样品保持器(13)上保持样品(12)且对样品进行温度控制；

其特征在于：通过在样品保持器(13)和探测器(28)之间设置的可调节的检测光学系统，在样品表面上的探测器(28)的视域是可调节的，以使得根据对该光学系统的调节，待研究的样品(12)的检测面的全部或仅仅一部分可选择地位于探测器(28)的视域中。

9.根据权利要求8所述的方法，其中，根据待研究的样品(12)的尺寸，尤其是样品的大小和/或厚度进行检测光学系统的调节。

10.根据权利要求8或9所述的方法，其中，在对检测光学系统进行调节的情况下，其中待研究的样品(12)的检测面的仅仅一部分调节作为视域，对样品(12)执行光热研究包括以空间分辨的方式扫描样品(12)。