[发明专利]ECR-PEMOCVD系统对InN/ZnO/自支撑金刚石膜结构的制备方法有效
申请号: | 201310300540.7 | 申请日: | 2013-07-17 |
公开(公告)号: | CN103388146A | 公开(公告)日: | 2013-11-13 |
发明(设计)人: | 赵琰;张铁岩;王存旭;王晓文;张宏丽;许鉴;李昱材;王健;王宝石;衣云龙;郭瑞;王帅杰;关新;刘莉莹;高微 | 申请(专利权)人: | 沈阳工程学院 |
主分类号: | C23C28/00 | 分类号: | C23C28/00;C23C16/30;C23C16/517;C23C16/18;C23C14/35;C23C14/08 |
代理公司: | 沈阳亚泰专利商标代理有限公司 21107 | 代理人: | 史旭泰 |
地址: | 110136 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明属于新型光电材料沉积制备技术领域,提供一种可低温制备电学性能良好、散热性能良好的InN光电薄膜的ECR-PEMOCVD系统对InN/ZnO/自支撑金刚石膜结构的制备方法。本发明包括以下步骤:1)将自支撑金刚石膜基片依次用丙酮、乙醇、去离子水依次超声波清洗后,用氮气吹干送入反应室;2)ZnO薄膜是在磁控溅射设备上利用射频磁控溅射技术溅射而成的,靶材为ZnO陶瓷靶,工作气体是氩气。 | ||
搜索关键词: | ecr pemocvd 系统 inn zno 支撑 金刚石 膜结构 制备 方法 | ||
【主权项】:
ECR‑PEMOCVD系统对InN/ZnO/自支撑金刚石膜结构的制备方法,其特征在于包括以下步骤:1)将自支撑金刚石膜基片依次用丙酮、乙醇、去离子水依次超声波清洗后,用氮气吹干送入反应室;2)ZnO薄膜是在磁控溅射设备上利用射频磁控溅射技术溅射而成的,靶材为ZnO陶瓷靶,工作气体是氩气;3)最后采用ECR‑PEMOCVD系统,将反应室抽真空,将基片加热至300℃~500℃,向反应室内通入氢气携带的三甲基铟、氮气,三甲基铟与氮气流量比为(4~5):(100~150),控制气体总压强,电子回旋共振反应30min~3h,得到在ZnO/自支撑金刚石膜结构上的InN光电薄膜。
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