[发明专利]基于可热插拔光模块的常温调试系统及常温调试方法

摘要

本发明公开了一种基于可热插拔光模块的常温调试系统及常温调试方法。该方法包括：设置短距离光纤传输环境，启动并初始化待调试XFP光模块的发射端参数；调整待调试XFP光模块的接收端的APD反向偏置电压，获取误码率信息，如果误码率没有达到最小，向待调试XFP光模块写入APD反向偏置电压升高步长指令；如果误码率达到最小，获取误码率最小时的APD反向偏置电压；将设置的短距离光纤传输环境更换为长距离光纤传输环境，调整待调试XFP光模块的EA电压，获取误码率信息，如果误码率没有达到最小，向待调试XFP光模块写入EA电压调低步长指令；如果误码率达到最小，获取误码率最小时的EA电压。应用本发明，可以提高XFP光模块的生产直通率。

主权项

一种基于可热插拔XFP光模块的常温调试系统，其特征在于，该系统包括：主机、通信板、误码仪、待调试XFP光模块、分光器、光衰减器以及光纤控制开关，其中，主机，用于在进行常温调试时，向通信板下发发射端初始化参数设置指令，向光衰减器下发第一衰减指令，向误码仪下发误码仪设置指令，向光纤控制开关下发短距离光纤接通指令；接收误码仪输出的误码率信息，如果接收时间在下发长距离光纤接通指令之前，判断误码率是否达到最小，如果否，通过通信板，向待调试XFP光模块写入雪崩光电二极管APD反向偏置电压升高步长指令；如果是，通过通信板，从待调试XFP光模块读取误码率最小时对应的APD反向偏置电压，向光纤控制开关下发长距离光纤接通指令，向光衰减器下发第二衰减指令，向待调试XFP光模块下发EA电压调节指令；如果接收时间在下发长距离光纤接通指令之后，判断误码率是否达到最小，如果否，通过通信板，向待调试XFP光模块写入电吸收EA电压调低步长指令；如果是，通过通信板，从待调试XFP光模块读取误码率最小值对应的EA电压；光纤控制开关，用于接收短距离光纤接通指令，将分光器与光衰减器通过短距离光纤接通；接收长距离光纤接通指令，将分光器与光衰减器通过长距离光纤接通；通信板，用于接收发射端初始化参数设置指令，输出至待调试XFP光模块；误码仪，用于根据接收的误码仪设置指令进行设置并启动运行，向待调试XFP光模块持续输出电信号；接收待调试XFP光模块输出的电信号，进行误码率检测，将检测得到误码率信息输出至主机；待调试XFP光模块，用于根据接收的发射端初始化参数设置指令启动运行，接收误码仪输出的电信号，进行电光转换，输出至分光器；接收光衰减器输出的光信号，进行光电转换，输出至误码仪；接收APD反向偏置电压升高步长指令，调高接收端的APD反向偏置电压；接收EA电压调节指令，调低EA电压；分光器，用于对接收的光信号进行分光处理，将经分光处理的一光信号输出至光衰减器；光衰减器，用于接收第一衰减指令，对输出光功率进行设置；接收第二衰减指令，重新对输出光功率进行设置；接收来自分光器的光信号，进行衰减后输出至待调试XFP光模块。