[发明专利]基于可热插拔光模块的常温调试系统及常温调试方法

权利要求书

1.一种基于可热插拔XFP光模块的常温调试系统，其特征在于，该系统包括：主机、通信板、误码仪、待调试XFP光模块、分光器、光衰减器以及光纤控制开关，其中，

主机，用于在进行常温调试时，向通信板下发发射端初始化参数设置指令，向光衰减器下发第一衰减指令，向误码仪下发误码仪设置指令，向光纤控制开关下发短距离光纤接通指令；

接收误码仪输出的误码率信息，如果接收时间在下发长距离光纤接通指令之前，判断误码率是否达到最小，如果否，通过通信板，向待调试XFP光模块写入雪崩光电二极管APD反向偏置电压升高步长指令；如果是，通过通信板，从待调试XFP光模块读取误码率最小时对应的APD反向偏置电压，向光纤控制开关下发长距离光纤接通指令，向光衰减器下发第二衰减指令，向待调试XFP光模块下发EA电压调节指令；如果接收时间在下发长距离光纤接通指令之后，判断误码率是否达到最小，如果否，通过通信板，向待调试XFP光模块写入电吸收EA电压调低步长指令；如果是，通过通信板，从待调试XFP光模块读取误码率最小值对应的EA电压；

光纤控制开关，用于接收短距离光纤接通指令，将分光器与光衰减器通过短距离光纤接通；接收长距离光纤接通指令，将分光器与光衰减器通过长距离光纤接通；

通信板，用于接收发射端初始化参数设置指令，输出至待调试XFP光模块；

误码仪，用于根据接收的误码仪设置指令进行设置并启动运行，向待调试XFP光模块持续输出电信号；接收待调试XFP光模块输出的电信号，进行误码率检测，将检测得到误码率信息输出至主机；

待调试XFP光模块，用于根据接收的发射端初始化参数设置指令启动运行，接收误码仪输出的电信号，进行电光转换，输出至分光器；接收光衰减器输出的光信号，进行光电转换，输出至误码仪；接收APD反向偏置电压升高步长指令，调高接收端的APD反向偏置电压；接收EA电压调节指令，调低EA电压；

分光器，用于对接收的光信号进行分光处理，将经分光处理的一光信号输出至光衰减器；

光衰减器，用于接收第一衰减指令，对输出光功率进行设置；接收第二衰减指令，重新对输出光功率进行设置；接收来自分光器的光信号，进行衰减后输出至待调试XFP光模块。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，进一步包括光采样示波器，

所述光采样示波器，用于对分光器输出的另一光信号进行采样，获取待调试XFP光模块参数，输出至主机；

所述主机，进一步用于根据接收的待调试XFP光模块参数，依序调整待调试XFP光模块的发射光功率、消光比及交叉点至预先设定值，之后，向待调试XFP光模块的接收端下发使能调节指令，在待调试XFP光模块将接收端的信号丢失使能以及信号恢复使能分别调整至预先设置的相应目标使能阈值后，进行发射光功率校准及激光器温度校准；

所述待调试XFP光模块，进一步用于接收使能调节指令，分别调整待调试XFP光模块接收端的信号丢失使能以及信号恢复使能至预先设置的相应目标使能阈值。

3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述主机与通信板以及光衰减器分别通过通用串行总线接口连接，与误码仪及光采样示波器分别通过通用接口总线接口连接；

通信板通过交互集成电路总线接口分别与待调试XFP光模块相连；

待调试XFP光模块通过同轴线与误码仪相连，以及，通过短距离光纤分别与分光器以及光衰减器相连；

分光器通过短距离光纤与光采样示波器相连，以及，通过短距离光纤或长距离光纤与光纤控制开关相连；

光纤控制开关通过短距离光纤或长距离光纤与光衰减器相连。

4.一种基于可热插拔XFP光模块的常温调试方法，该方法包括：

A，设置短距离光纤传输环境，启动并初始化待调试XFP光模块的发射端参数；

B，根据雪崩光电二极管APD反向偏置电压升高步长指令调整待调试XFP光模块的接收端的APD反向偏置电压，获取误码率信息，如果误码率没有达到最小，向待调试XFP光模块写入APD反向偏置电压升高步长指令；如果误码率达到最小，获取误码率最小时的APD反向偏置电压；

C，将设置的短距离光纤传输环境更换为长距离光纤传输环境，根据电吸收EA电压调低步长指令调整待调试XFP光模块的EA电压，获取误码率信息，如果误码率没有达到最小，向待调试XFP光模块写入EA电压调低步长指令；如果误码率达到最小，获取误码率最小时的EA电压。