[发明专利]基于可热插拔光模块的常温调试系统及常温调试方法

说明书

技术领域

本发明涉及光通信技术，尤其涉及一种基于可热插拔光模块的常温调试系统及常温调试方法。

背景技术

随着光通信行业的发展，光纤高速传输技术正沿着扩大单一波长传输容量、超长距离传输和波分复用系统方向发展。在超长距离光通信系统中，在G652光纤中衰减最小的1550波段得到了大家的亲睐，但是，1550波段存在一定的色散值，会展宽光信号及增大误码率，对40km或者80km的10Gb/s数据传输性能造成了影响。因此，在超长距离小型封装可热插拔（XFP，10Gigabit Small Form Factor Pluggable）光模块的生产中，提出了光通道代价测试指标，用以评价光信号在超长距离光纤传输后的色散水平。其中，光通道代价是指，光信号波形在光通道中传输由于色散等因素导致接收器灵敏度的变化值。

随着市场对超长距离XFP光模块的光通道代价性能的重视度不断提高，在进行光通道代价性能测试前，厂家在生产光模块时都加入了XFP光模块调试，以提高光通道代价性能测试的直通率。目前，在超长距离XFP光模块生产过程中，主要的调试包括：常温调试、高温测试、低温测试和EEPROM检查。

其中，在XFP光模块的生产调试过程中，大部分生产厂家是在常温调试的初始化阶段写入固定的激光器电吸收电压（EA，Electro Absorption Voltage）电压，或者，在常温调试过程中只是把EA电压调整到消光比满足的点，然后，在继常温调试之后的光通道代价测试过程中，保持EA电压不变。其中，如果EA电压过小，将会导致光功率变小，如果EA电压过大，将会导致光通道代价增大。因此，当光通道代价测试不达标后，需重新调整常温调试的EA电压，进而对整个XFP光模块重新进行光通道代价测试，如此重复往返，面对大规模光通道代价性能测试时，会造成大量人力物力的浪费，降低XFP光模块的生产直通率。

发明内容

本发明实施例提供一种基于可热插拔光模块的常温调试方法，以提高后续光通道代价测试的XFP光模块的生产直通率。

本发明实施例还提供一种基于可热插拔光模块的常温调试系统，以提高后续光通道代价测试的XFP光模块的生产直通率。

为达到以上目的，本发明实施例提供了一种基于可热插拔光模块的常温调试系统，该系统包括：主机、通信板、误码仪、待调试XFP光模块、分光器、光衰减器以及光纤控制开关，其中，

主机，用于在进行常温调试时，向通信板下发发射端初始化参数设置指令，向光衰减器下发第一衰减指令，向误码仪下发误码仪设置指令，向光纤控制开关下发短距离光纤接通指令；

接收误码仪输出的误码率信息，如果接收时间在下发长距离光纤接通指令之前，判断误码率是否达到最小，如果否，通过通信板，向待调试XFP光模块写入雪崩光电二极管APD反向偏置电压升高步长指令；如果是，通过通信板，从待调试XFP光模块读取误码率最小时对应的APD反向偏置电压，向光纤控制开关下发长距离光纤接通指令，向光衰减器下发第二衰减指令，向待调试XFP光模块下发EA电压调节指令；如果接收时间在下发长距离光纤接通指令之后，判断误码率是否达到最小，如果否，通过通信板，向待调试XFP光模块写入电吸收EA电压调低步长指令；如果是，通过通信板，从待调试XFP光模块读取误码率最小值对应的EA电压；

光纤控制开关，用于接收短距离光纤接通指令，将分光器与光衰减器通过短距离光纤接通；接收长距离光纤接通指令，将分光器与光衰减器通过长距离光纤接通；

通信板，用于接收发射端初始化参数设置指令，输出至待调试XFP光模块；

误码仪，用于根据接收的误码仪设置指令进行设置并启动运行，向待调试XFP光模块持续输出电信号；接收待调试XFP光模块输出的电信号，进行误码率检测，将检测得到误码率信息输出至主机；

待调试XFP光模块，用于根据接收的发射端初始化参数设置指令启动运行，接收误码仪输出的电信号，进行电光转换，输出至分光器；接收光衰减器输出的光信号，进行光电转换，输出至误码仪；接收APD反向偏置电压升高步长指令，调高接收端的APD反向偏置电压；接收EA电压调节指令，调低EA电压；

分光器，用于对接收的光信号进行分光处理，将经分光处理的一光信号输出至光衰减器；

光衰减器，用于接收第一衰减指令，对输出光功率进行设置；接收第二衰减指令，重新对输出光功率进行设置；接收来自分光器的光信号，进行衰减后输出至待调试XFP光模块。

较佳地，进一步包括光采样示波器，