[发明专利]IC卡字符凸印高度测试仪的生产方法无效

专利信息
申请号: 201310264634.3 申请日: 2013-06-22
公开(公告)号: CN103363864A 公开(公告)日: 2013-10-23
发明(设计)人: 黄山石;吴杰;姜永选 申请(专利权)人: 温州市质量技术监督检测院
主分类号: G01B5/06 分类号: G01B5/06
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 一种IC卡字符凸印高度测试仪的生产方法,首先,在底座上安装支架,支架由三层托架和三层支撑架构成,上层托架高度是中层托架高度与下层托架高度之和,中层托架高度与下层托架高度一样;上支撑块高度与下支撑块高度一样,中支撑块高度是上支撑块高度与下支撑块高度之和。其次,在三层托架的前端中间均设为“U”型口。然后,在上层托架的上方安置一个数显千分表,中层托架与下层托架之间设置配重,配重的重力为3.0N,数显千分表的滑动杆与配重设置在同一重力轴线上,数显千分尺测试恒力达到3.5N~5.9N。最后,在配重下端轴设有测杆,测杆与测试字符相接触,平滑砧与测杆对应设置,能准确测试出IC卡字符高度。
搜索关键词: ic 字符 高度 测试仪 生产 方法
【主权项】:
一种IC卡字符凸印高度测试仪的生产方法,首先,在底座上安装支架,支架由三层托架和三层支撑架构成,三层托架的长度一样,三层支撑块长度一样,整个支架设计成反“E”字型;其次,在三层托架的前端中间均设为“U”型口;然后,在上层托架的上方安置一个数显千分表,数显千分表的滑动杆穿过上层托架“U”型口中的套圈,固定在托架上;中层托架与下层托架之间设置配重,配重两端轴穿过中层托架与下层托架的套圈,配重可转动;数显千分表的滑动杆下端与配重上端轴接触,数显千分表的滑动杆与配重设置在同一重力轴线上;最后,在配重下端轴设有测杆,测杆与测试字符相接触,载物台固定在底座上,载物台上设有平滑砧,平滑砧与测杆对应设置。
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