[发明专利]IC卡字符凸印高度测试仪的生产方法

说明书

技术领域：

本发明涉及一种高度测试装置的制造方法，特别涉及一种IC卡字符凸印高度测试仪的生产方法，用于集成电路卡字符的凸起高度的测试。 

背景技术：

在ISO/IEC10373-1标准中定义了字符凸印的起伏高度的检测方法并在ISO/IEC7811-1标准中定义了字符高度要求。 

目前，公知的测试高度的装置如杠杆千分尺、微米千分尺等由于无法调整测试时施加在IC卡字符上的力。再如现有测厚仪，虽能调节施加的力值，但其分辨力无法达到0.001mm而不能拿来作为测试IC卡字符高度的装置。 

发明内容：

针对现有技术不足，为实现上述目的，提供一种IC卡字符凸印高度测试仪的生产方法，可以调整测试时施加在IC卡字符上的力，能准确测试出IC卡字符高度。 

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：首先，在底座上安装支架，支架由三层托架和三层支撑架构成，三层托架的长度一样，三层支撑块长度一样，整个支架设计成反“E”字型，上层托架高度是中层托架高度与下层托架高度之和，中层托架高度与下层托架高度一样；上支撑块高度与下支撑块高度一样，中支撑块高度是上支撑块高度与下支撑块高度之和，托架与支撑块按顺序交叉叠放，用螺栓固定。 

其次，在三层托架的前端中间均设为“U”型口，三个“U”型口均中设有套圈。 

然后，在上层托架的上方安置一个数显千分表，数显千分表的滑动杆穿过上层托架“U”型口中的套圈，固定在托架上；中层托架与下层托架之间设置配重，配重两端轴穿过中层托架与下层托架的套圈，配重可转动，配重的重力为3.0N；数显千分表的滑动杆下端与配重上端轴接触，数显千分表的滑动杆与配重设置在同一重力轴线上，数显千分尺自身的接触力为0.5N～2.9N，测试恒力达到3.5N～5.9N。 

最后，在配重下端轴设有测杆，测杆与测试字符相接触，载物台固定在底座上，载物台上设有平滑砧，平滑砧与测杆对应设置。 

本发明有益效果：直接显示出字符高度，具有使用方便，维护简单。 

附图说明：

图1为本发明的原理结构示意图； 

图中，1、数显千分表，2、上层托架，3、上支撑块，4、中层托架， 中支撑块，6、下层托架，7、下支撑块，8、套圈，9、滑动杆，10、配重，11、载物台，12、底座，13、平滑砧。 

具体实施方式：

如附图所示，首先加工一块金属材料作为测试仪底座(12)，在底座(12)上安装支架，支架由三层托架和三层支撑架构成，三层托架的长度一样，三层支撑块长度一样，整个支架设计成反“E”字型，上层托架(2)高度是中层托架(4)高度与下层托架(6)高度之和，中层托架(4)高度与下层托架(6)高度一样；上支撑块(3)高度与下支撑块(7)高度一样，中支撑块(5)高度是上支撑块(3)高度与下支撑块(7)高度之和，托架与支撑块按顺序交叉叠放，用螺栓固定。 

三层托架的前端部中间均设为“U”型口，三个“U”型口均中设有套圈(8)。 

在上层托架的上方安置一个数显千分表(1)，数显千分表(1)的滑动杆(9) 穿过上层托架“U”型口中的套圈(8)，固定在托架上；中层托架(4)与下层托架(6)之间设置配重(10)，配重(10)两端轴穿过中层托架(4)与下层托架(6)的套圈(8)，配重(10)可转动，配重(10)的重力为3.0N；数显千分表(1)的滑动杆(9)下端与配重(10)上端轴接触，数显千分表(1)的滑动杆(9)与配重(10)设置在同一重力轴线上，数显千分尺自身的接触力为0.5N～2.9N，测试恒力达到3.5N～5.9N，测试恒力是配重力和数显千分尺自身接触力之和。 

配重(10)下端轴设有测杆，测杆与测试字符相接触，测杆是3mm至8mm范围内的锥形轴，被测IC卡放置在测杆和载物台(11)中间进行测试，载物台(11)固定在底座(12)上，载物台(11)上设有平滑砧(13)，平滑砧(13)与测杆对应设置，平滑砧(13)用于支撑IC卡与测杆进行配合测试，准确测试出IC卡字符高度，直接在数显千分表(1)里显示出字符高度。