[发明专利]一种消除提离效应的脉冲涡流检测方法及装置

摘要

本发明公开了一种消除提离效应的脉冲涡流检测方法及装置，所述检测方法具体包括：步骤1、对被测试件在不同的已知缺陷深度位置处获得不同提离高度下的检测信号时域曲线并且在被测试件无缺陷位置处获得无提离高度的参考信号时域曲线，并对检测信号和参考信号的时域曲线作差分处理和提取特征值处理，获取差分峰值电压拟合直线斜率与缺陷深度的关系曲线；步骤2、对被测试件的未知缺陷深度进行定量评估，获得在未知缺陷深度位置处不同提离高度下的检测信号时域曲线，并将检测信号与参考信号的时域曲线作差分处理和提取特征值，将处理结果代入求得的表达式中，获得被测试件的未知缺陷深度。该方法消除了提离效应在脉冲涡流检测系统中的影响。

主权项

一种消除提离效应的脉冲涡流检测方法，其特征在于，具体包括：S1、对被测试件在不同的已知缺陷深度位置处获得不同提离高度下的检测信号时域曲线并且在被测试件无缺陷位置处获得无提离高度的参考信号时域曲线，并对检测信号和参考信号的时域曲线作差分处理和提取特征值处理，获取差分峰值电压拟合直线斜率与缺陷深度的关系曲线，具体分步骤包括：S11、产生频率和占空比均可调的脉冲激励信号；S12、激励探头线圈，产生激励磁场，将探头线圈置于被测试件上方，获取不同情况的响应信号的时域曲线，包括：1、在被测试件无缺陷位置处获取无提离高度的参考信号的时域曲线；2、在被测试件至少四处已知缺陷深度A1、A2、A3、A4处获取不同提离高度下的检测信号的时域曲线，所述A1、A2、A3、A4分别为不同的缺陷深度；S13、对在已知缺陷深度A1处获得的检测信号的时域曲线与参考信号的时域曲线作差分处理，获取在已知缺陷深度A1处不同提离高度下的差分信号曲线；S14、重复步骤S13，获取在已知缺陷深度A2、A3、A4处不同提离高度下的差分信号曲线；S15、提取所述步骤S13和S14中获取的已知缺陷深度A1、A2、A3、A4在不同提离高度下的差分信号曲线的峰值电压，获取在不同已知缺陷深度A1、A2、A3、A4下差分峰值电压与不同提离高度的关系曲线，所述关系曲线分别对应在不同已知缺陷深度A1、A2、A3、A4下的差分峰值电压拟合直线斜率：K1、K2、K3、K4；S16、根据所述步骤S15获得的差分峰值电压拟合直线斜率K1、K2、K3、K4与对应的已知缺陷深度A1、A2、A3、A4，将其拟合为一条三次函数曲线，所述三次函数曲线为：h=aK3+bK2+cK+d，其中，所述h为对应的已知缺陷深度A1、A2、A3、A4，K为所述差分峰值电压拟合直线斜率K1、K2、K3、K4，a、b、c、d分别为所述三次函数曲线的系数，将所述A1、A2、A3、A4和K1、K2、K3、K4代入所述三次函数曲线，获得对应的a、b、c、d的值，再将获得的a、b、c、d的值代入三次函数曲线，得到差分峰值电压拟合直线斜率与缺陷深度关系：h=aK3+bK2+cK+d；S2、对被测试件的未知缺陷深度进行定量评估，获得在未知缺陷深度位置处不同提离高 度下的检测信号时域曲线，并将检测信号与参考信号的时域曲线作差分处理和提取特征值，将处理结果代入所述步骤S16中求得的表达式h=aK3+bK2+cK+d中，获得被测试件的未知缺陷深度，具体分步骤包括：S21、产生频率和占空比均可调的脉冲激励信号；S22、激励探头线圈，产生激励磁场，将探头线圈置于被测试件上方，在未知缺陷深度Ax处的某一未知提离高度处获得检测信号B1的时域曲线；再在未知提离高度的基础上分别依次增加△x，再获得至少三处不同提离高度的检测信号B2、B3、B4的时域曲线;S23、将所述步骤S22获得的检测信号B1、B2、B3、B4的时域曲线与所述步骤S12中获得的参考信号的时域曲线作差分处理，获得不同提离高度下的差分信号曲线，提取差分信号曲线的峰值电压，获得不同提离高度与对应的差分峰值电压的关系曲线，提取所述关系曲线的差分峰值电压拟合直线斜率K，并将K代入所述步骤S16中所得的关系曲线h=aK3+bK2+cK+d，获得未知缺陷深度h，即步骤S22中的Ax的深度值。