[发明专利]一种产品技术研发能力满足度量化评估方法有效

专利信息
申请号: 201310257644.4 申请日: 2013-06-26
公开(公告)号: CN103455706A 公开(公告)日: 2013-12-18
发明(设计)人: 吴龙刚;赵林榜;张新宇;孙霞;孙本海;李彪;周伟祝;高欣;吴永峰;吴昊;王晶 申请(专利权)人: 北京系统工程研究所
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 高尚梅
地址: 100101 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及技术研发能力满足度量化评估技术领域,具体公开了一种产品技术研发能力满足度量化评估方法。该方法具体包括:1)针对待评估产品技术进行工作结构分解,并形成需求指标数据库;2)根据待评估产品分系统与承研承制单位相关数据,获得我国某产品科研能力宏观评估的现有能力值,并形成现有指标数据库;3)对待评估产品进行单项指标满足度评估;4)获得待评估产品技术研发能力总满足度指数。该方法可以实现对现有产品研制单位技术研发能力的评估,为政府、决策者和客户评价军工产品研制单位技术研发能力提供客观依据和技术支撑,同时,为产品研制单位判断目前企业自身技术研发水平提供手段,为制定企业未来技术发展战略提供依据。
搜索关键词: 一种 产品 技术 研发 能力 满足 度量 评估 方法
【主权项】:
一种产品技术研发能力满足度量化评估方法,其特征在于:该方法具体包括如下步骤:步骤1、针对待评估产品技术进行工作结构分解,并形成需求指标数据库;步骤2、根据待评估产品技术工作结构分解后的分系统与国内承研承制单位相关联的数据,获得待评估产品科研能力宏观评估的现有能力值,并形成现有指标数据库;;步骤3、对待评估产品进行单项指标满足度评估;利用步骤1和步骤2分别获得的需求指标数据库和现有指标数据库,获得单项指标满足度: m i ( t k t j ) = A i ( t k ) R i ( t j ) × 100 % 其中,mi为某产品单项指标满足度,i=1,2,…,n;Ai(tk)为国内现有能力指标;Ri(tj)为需求目标指标;步骤4、获得待评估产品技术研发能力总满足度指数;根据科研能力指标体系或生产能力指标体系,将步骤3获得的单项指标满足度计算值赋予相对应能力指标体系的底层指标;采用加权平均法或层次分析法AHP综合评价方法进行指标排序和赋权,最后聚合得到总满足度指数。
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