[发明专利]一种产品技术研发能力满足度量化评估方法有效

专利信息
申请号: 201310257644.4 申请日: 2013-06-26
公开(公告)号: CN103455706A 公开(公告)日: 2013-12-18
发明(设计)人: 吴龙刚;赵林榜;张新宇;孙霞;孙本海;李彪;周伟祝;高欣;吴永峰;吴昊;王晶 申请(专利权)人: 北京系统工程研究所
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 高尚梅
地址: 100101 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 产品 技术 研发 能力 满足 度量 评估 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于技术研发能力满足度量化评估技术领域,具体涉及一种产品技术研发能力满足度量化评估方法。 

背景技术

随着现代科技飞速发展,产品的技术含量越来越高,其研发工作呈现出高投入、高风险的特性。因此,需要对产品研制单位的技术研发能力进行量化评估,以获得相对于客户需求的满足度,并为政府、决策者和客户评价产品研制单位技术研发能力提供客观依据和技术支撑。 

发明内容

本发明的目的在于提供一种产品技术研发能力满足度量化评估方法,可以解决现有产品研制单位技术研发能力的评估问题,实现企业的技术研发水平与需求之间差距的判断,为制定企业未来技术发展战略及政府、决策者和客户评价产品研制单位技术研发能力提供客观依据。 

本发明的技术方案如下:一种产品技术研发能力满足度量化评估方法,该方法具体包括如下步骤: 

步骤1、针对待评估产品技术进行工作结构分解,并形成需求指标数据库; 

步骤2、根据待评估产品技术工作结构分解后的分系统与国内承研承制单位相关联的数据,获得待评估产品科研能力宏观评估的现有能力值,并形成现有指标数据库; 

步骤3、对待评估产品进行单项指标满足度评估; 

利用步骤1和步骤2分别获得的需求指标数据库和现有指标数据库,获得单项指标满足度: 

mi(tktj)=Ai(tk)Ri(tj)×100%]]>

其中,mi为某产品单项指标满足度,i=1,2,…,n;Ai(tk)为国内现有能力指标;Ri(tj)为需求目标指标。 

步骤4、获得待评估产品技术研发能力总满足度指数; 

根据科研能力指标体系或生产能力指标体系,将步骤3获得的单项指标满 足度计算值赋予相对应能力指标体系的底层指标;采用加权平均法或层次分析法AHP综合评价方法进行指标排序和赋权,最后聚合得到总满足度指数。 

所述的步骤1具体包括如下步骤: 

步骤1.1、针对某种产品,按照GJB5427-2005《工作分解结构代码》要求,对该类产品进行工作结构分解,构建WBS矩阵,实现“典型产品->系统功能”映射; 

步骤1.2、获取国内外承研承制单位数据库,将步骤1.1中分解出来的系统与承研承制单位数据相关联,即不同的系统与哪几家承研承制单位相关; 

步骤1.3、根据待评估的任务实际情况,对科研能力评估指标体系标准模型进行裁剪,形成需求指标数据库。 

本发明的显著效果在于:本发明所述的一种产品技术研发能力满足度量化评估方法,可以实现对现有产品研制单位技术研发能力的评估,为政府、决策者和客户评价军工产品研制单位技术研发能力提供客观依据和技术支撑,同时,为产品研制单位判断目前企业自身技术研发水平提供手段,为制定企业未来技术发展战略提供依据。 

具体实施方式

一种产品技术研发能力满足度量化评估方法,该方法具体包括如下步骤: 

步骤1、针对待评估产品技术进行工作结构分解,并形成需求指标数据库; 

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