[发明专利]可调节变阻式结构面三维形貌测量装置有效
申请号: | 201310240415.1 | 申请日: | 2013-06-18 |
公开(公告)号: | CN103267477A | 公开(公告)日: | 2013-08-28 |
发明(设计)人: | 吉锋;潘凯;谭洵;蔡国军;陆孟波;石豫川 | 申请(专利权)人: | 成都理工大学 |
主分类号: | G01B7/28 | 分类号: | G01B7/28 |
代理公司: | 成都立信专利事务所有限公司 51100 | 代理人: | 江晓萍 |
地址: | 610081 四川省成都市二仙*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明可调节变阻式结构面三维形貌测量装置,有可调节式基座支架、变阻式测量探针,可调节基座支架中有探针基座,变阻式测量探针中有由横向装有导电钢珠环且下端有隔板的绝缘套管和上端卡入绝缘套管下端的内置绝缘套管组成的绝缘壳体,绝缘壳体沿轴向有探针轴滑道,探针轴位于探针轴滑道中且针尖伸出内置绝缘套管外,绝缘套管中有装在探针轴上部且与探针轴同轴线的绝缘棒,绝缘棒上绕有电阻丝线圈并且穿在导电钢珠环内孔上与导电钢珠接触,在导电钢珠环上部有输出导线,电阻丝线圈顶部有输入导线,绝缘套管下部有与探针基座上的探针卡座配合的卡齿。本发明结构简单,操作方便,工作效率高,造价经济,实用性强。 | ||
搜索关键词: | 调节 变阻式 结构 三维 形貌 测量 装置 | ||
【主权项】:
可调节变阻式结构面三维形貌测量装置,有可调节式基座支架、变阻式测量探针、控制箱,可调节基座支架中有外固定支座、中转动尺座、内移动尺座、探针基座,中转动尺座位于外固定支座中,两水平转轴分别装在外固定尺座两对应边上且分别穿过中转动尺座相应边使中转动尺座随两水平转轴转动并通过固定件固定,中转动尺座相对两面上分别有平行于两水平转轴轴线的横向滑槽,两分别装在两横向滑槽中的横向滑块的上端分别穿过内移动尺座对应端带动内移动尺座沿横向滑槽滑动并能通过固定件固定,内移动尺座上有与两横向滑槽垂直的纵向滑槽,探针基座装在纵向滑槽上并沿纵向滑槽滑动且能固定,探针基座上有至少一个探针卡座,变阻式测量探针中有由横向装有导电钢珠环且下端有隔板的绝缘套管和上端卡入绝缘套管下端的内置绝缘套管组成的绝缘壳体,绝缘壳体沿轴向有探针轴滑道,探针轴位于探针轴滑道中且针尖伸出内置绝缘套管外,内置绝缘套管中有弹簧腔,位于弹簧腔内的第一弹簧套在探针轴上,绝缘套管中有装在探针轴上部且与探针轴同轴线的绝缘棒,绝缘棒上绕有电阻丝线圈并且穿在导电钢珠环内孔上与导电钢珠接触,在导电钢珠环上部有输出导线,电阻丝线圈顶部有输入导线,电流从电阻丝线圈顶部输入从导电钢珠环输出从而形成闭合回路,绝缘套管下部有与探针基座上的探针卡座配合的卡齿。
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