[发明专利]可调节变阻式结构面三维形貌测量装置

权利要求书

1.可调节变阻式结构面三维形貌测量装置，有可调节式基座支架、变阻式测量探针、控制箱，可调节基座支架中有外固定支座、中转动尺座、内移动尺座、探针基座，中转动尺座位于外固定支座中，两水平转轴分别装在外固定尺座两对应边上且分别穿过中转动尺座相应边使中转动尺座随两水平转轴转动并通过固定件固定，中转动尺座相对两面上分别有平行于两水平转轴轴线的横向滑槽，两分别装在两横向滑槽中的横向滑块的上端分别穿过内移动尺座对应端带动内移动尺座沿横向滑槽滑动并能通过固定件固定，内移动尺座上有与两横向滑槽垂直的纵向滑槽，探针基座装在纵向滑槽上并沿纵向滑槽滑动且能固定，探针基座上有至少一个探针卡座，变阻式测量探针中有由横向装有导电钢珠环且下端有隔板的绝缘套管和上端卡入绝缘套管下端的内置绝缘套管组成的绝缘壳体，绝缘壳体沿轴向有探针轴滑道，探针轴位于探针轴滑道中且针尖伸出内置绝缘套管外，内置绝缘套管中有弹簧腔，位于弹簧腔内的第一弹簧套在探针轴上，绝缘套管中有装在探针轴上部且与探针轴同轴线的绝缘棒，绝缘棒上绕有电阻丝线圈并且穿在导电钢珠环内孔上与导电钢珠接触，在导电钢珠环上部有输出导线，电阻丝线圈顶部有输入导线，电流从电阻丝线圈顶部输入从导电钢珠环输出从而形成闭合回路，绝缘套管下部有与探针基座上的探针卡座配合的卡齿。

2.如权利要求1所述的可调节变阻式结构面三维形貌测定装置，其特征在于外固定支座上位于水平转轴的位置装有量角器，中转动支座上相对横向滑槽的位置有横向刻度尺，内移动尺座上相对纵向滑槽的位置有纵向刻度尺。

3.如权利要求1或2所述的可调节变阻式结构面三维形貌测定装置，其特征在于绝缘棒上端与绝缘套管顶部间装有第二弹簧。

4.如权利要求1或2所述的可调节变阻式结构面三维形貌测定装置，其特征在于探针基座上的探针卡座为三个，变阻式测量探针为三个、分别装在三个探针卡座上。

5.如权利要求1或2所述的可调节变阻式结构面三维形貌测定装置，其特征在于探针基座中有底座、位于底座底部的伸入纵向滑槽中的纵向滑块、装在底座上的两滑杆，两滑杆上分别装有压缩弹簧，上座通过分别与两滑杆配合的滑孔装在两滑杆上，卡座位于上座上，在滑杆位于底座和上座间的上、下位置上分别装有吸片、电磁铁，电磁铁通过导线受电磁铁控制开关控制，电磁铁通电后与吸片接触、从而压缩滑杆上的压缩弹簧带动探针向下运动，断开电流后、电磁铁与吸片脱离，变阻式探针通过压缩弹簧反弹回原来高度。

6.如权利要求1或2所述的可调节变阻式结构面三维形貌测定装置，其特征在于外固定支座四周分别装有水平调节支撑螺杆、与水平调节支撑螺杆配合的调节固定螺母，外固定支座上装有水准仪。