[发明专利]改善GaN基外延片内波长集中度的外延结构及生长方法有效

专利信息
申请号: 201310224408.2 申请日: 2013-06-07
公开(公告)号: CN103337571A 公开(公告)日: 2013-10-02
发明(设计)人: 杨奎;牛勇;吴礼清;李刚;郭丽彬;蒋利民 申请(专利权)人: 合肥彩虹蓝光科技有限公司
主分类号: H01L33/12 分类号: H01L33/12;H01L33/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 230012 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 一种改善GaN基外延片内波长集中度的外延结构及生长方法,该外延结构从下向上的顺序依次为:衬底、低温GaN缓冲层、GaN非掺杂层、ALxGa1-xN插入层、N型GaN层、多量子阱结构MQW、多量子阱有源层、低温P型GaN层、P型AlGaN层、高温P型GaN层和P型接触层;其特征在于,在GaN非掺杂层后插入一层ALxGa1-xN层,当ALxGa1-xN层插入外延结构以后,在生长GaN非掺杂层时,该GaN非掺杂层流量相对不插入ALxGa1-xN层的情况减少10%~30%;在插入ALxGa1-xN层以后生长N型GaN层时,该N型GaN层流量相对不插入所述ALxGa1-xN层的情况减少0~20%。本发明方法可以有效提高LED外延片内波长集中度。
搜索关键词: 改善 gan 外延 波长 集中 结构 生长 方法
【主权项】:
一种改善GaN基外延片内波长集中度的外延结构,该外延结构从下向上的顺序依次为:衬底、低温GaN缓冲层、GaN非掺杂层、ALxGa1‑xN插入层、N型GaN层、多量子阱结构MQW、多量子阱有源层、低温P型GaN层、P型AlGaN层、高温P型GaN层和P型接触层;其特征在于,在所述GaN非掺杂层后插入一层ALxGa1‑xN层,其中0.05
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