[发明专利]基线电容校准在审
| 申请号： | 201310216861.9 | 申请日： | 2013-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN103488360A | 公开（公告）日： | 2014-01-01 |
| 发明（设计）人： | C·E·罗;E·博卡 | 申请（专利权）人： | 德克萨斯仪器股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/044 | 分类号： | G06F3/044 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 赵蓉民 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明的实施例提供一种创建位于电容式触摸屏上的电容传感器的基线电容CP的统计模型的方法。在包括电容式触摸屏的电子设备的特定状态下测量电容传感器的感测电容CS。当与电容传感器不进行物理接触时，感测电容CS被存储作为基线电容CP。然后基线电容CP被用于为电子设备的特定状态创建统计模型。当与电容传感器进行物理接触时，从感测电容CS的值中减去电容传感器的基线电容CP的值，然后其结果CF=（CS－CP）被发送到触摸检测电路。 | ||
| 搜索关键词： | 基线 电容 校准 | ||
【主权项】：
一种确定基线电容CP的统计模型的非瞬时性机器实现方法，其包括：测量电容传感器的感测电容CS，其中所述电容传感器位于电容式触摸屏上，其中所述电容式触摸屏位于电子设备上；确定所述电子设备的状态；当与所述电容传感器不进行物理接触时，基于所述电子设备的状态存储所述感测电容CS的值作为基线电容CP；重复前面的步骤。
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