[发明专利]基于虚拟同心圆环阵列的参数估计方法有效

专利信息
申请号: 201310191346.X 申请日: 2013-05-21
公开(公告)号: CN103323811A 公开(公告)日: 2013-09-25
发明(设计)人: 王兰美;王桂宝;陶海红;朱圣棋;张学攀;廖桂生 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G01S3/46 分类号: G01S3/46
代理公司: 广东秉德律师事务所 44291 代理人: 杨焕军
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 基于虚拟同心圆环阵列的参数估计方法,接收阵列由分布在两段同心圆弧上的偶数个实际阵元组成,同心圆弧包括分别位于坐标原点的异侧且不互相重叠的内圆弧和外圆弧,内圆弧的端点与距其较远的外圆弧的端点间的连线穿过坐标原点,坐标原点处设置参考阵元;内圆弧和外圆弧上相互对应的实际阵元的连线穿过坐标原点;参数估计方法包括以下步骤:测量实际阵元与参考阵元的测量相位差;求出虚拟阵元与参考阵元的测量相位差;求出入射信号的虚拟短基线理论相位差;利用虚拟短基线理论相位差确定长基线理论相位差的相位模糊倍数;根据相位模糊倍数求出长基线精确估计相位差,根据入射信号在长基线上的精确估计相位差得到入射信号的二维到达角的估计值。
搜索关键词: 基于 虚拟 同心 圆环 阵列 参数估计 方法
【主权项】:
1.基于虚拟同心圆环阵列的参数估计方法,接收阵列接收K个互不相关的入射信号;其特征在于:所述接收阵列由平均分布在两段同心圆弧上的N个实际阵元组成,N为偶数,所述同心圆弧包括半径为R1的内圆弧和半径为R2的外圆弧,其中R10.>>0.5λmin,R2>>0.5λmin,R2-R1≤0.5λmin,内圆弧和外圆弧的圆心角相同,所述内圆弧和外圆弧分别位于坐标原点的异侧且不互相重叠,内圆弧的端点与距其较远的外圆弧的端点间的连线穿过坐标原点,坐标原点处设置参考阵元;在内圆弧上的每一实际阵元在外圆弧上都有一个相对应的实际阵元,所述内圆弧和外圆弧上相互对应的实际阵元的连线穿过坐标原点;所述参数估计方法包括以下步骤:步骤1、测量每个实际阵元与参考阵元的测量相位差步骤2、虚拟出位于内圆弧上的实际阵元和位于外圆弧上的实际阵元分别以坐标原点为对称中心对称布置的虚拟阵元,求出虚拟阵元与参考阵元的测量相位差步骤3、求出入射信号的虚拟短基线理论相位差Φs(n,k);虚拟短基线理论相位差Φs(n,k)和虚拟短基线测量相位差相等,即Φs(n,k)=Φ^s(n,k)={{Φ^o(l1,k)-Φ^i(l2,k)},{Φ^o(l1,k)-Φ^i(l2,k)}[-π,π]{Φ^o(l1,k)-Φ^i(l2,k)}-2π,{Φ^o(l1,k)-Φ^i(l2,k)}>π{Φ^o(l1,k)-Φ^i(l2,k)}+2π,{Φ^o(l1,k)-Φ^i(l2,k)}<-π]]>为入射信号在外圆弧的第l1个阵元与参考阵元的测量相位差,为入射信号在内圆弧的第l2个阵元与参考阵元的测量相位差,此时l1、l2位于参考阵元同侧且在一条直径上;步骤4、利用虚拟短基线理论相位差Φs(n,k)确定长基线理论相位差Φa(n,k)的相位模糊倍数p(n,k);长基线测量相位差为:Φ^a(n,k)={{Φ^o(l3,k)-Φ^i(l2,k)},{Φ^o(l3,k)-Φ^i(l2,k)}[-π,π]{Φ^o(l3,k)-Φ^i(l2,k)}-2π,{Φ^o(l3,k)-Φ^i(l2,k)}>π{Φ^o(l3,k)-Φ^i(l2,k)}+2π,{Φ^o(l3,k)-Φ^i(l2,k)}<-π]]>为入射信号在内圆弧的第l2个阵元与参考阵元的测量相位差,为入射信号在外圆弧的第l3个阵元与参考阵元的测量相位差,此时l2、l3位于参考阵元异侧且在一条直径上;长基线测量相位差与长基线理论相位差Φa(n,k)间的关系满足:Φ^a(n,k)=Φa(n,k)-2p(n,k)π;]]>由虚拟短基线理论相位差公式和长基线理论相位差公式得:Φa(n,k)=Φs(n,k)(R2+R1)(R2-R1)]]>,其中,θk为第k个入射信号的俯仰角,φk为第k个入射信号的方位角,为第n阵元的位置角坐标;根据步骤3得到的虚拟短基线理论相位差Φs(n,k)可以确定长基线理论相位差Φa(n,k)的相位模糊倍数p(n,k);步骤5、根据步骤4中的相位模糊倍数p(n,k)求出长基线精确估计相位差根据入射信号在长基线上的精确估计相位差Φae(n,k)得到入射信号的二维到达角(θkk)的估计值得到Γ1Γ2=sinθ^kcosφ^ksinθ^ksinφ^k]]>二维到达角的估计值为:θ^k=arcsin(Γ12+Γ22),]]>φ^k=arctan(Γ2Γ1),Γ10,]]>φ^k=π+arctan(Γ2Γ1),Γ1<0]]>前述步骤中的k=1,…,K,n,n’=1,…,N。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310191346.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top