[发明专利]一种器件芯片拉脱力测试的固定装置有效

专利信息
申请号: 201310072232.3 申请日: 2013-03-07
公开(公告)号: CN103115868A 公开(公告)日: 2013-05-22
发明(设计)人: 王旭;段超;陈雁;孟猛;龚欣;张伟;姬青;张延伟 申请(专利权)人: 中国空间技术研究院
主分类号: G01N19/04 分类号: G01N19/04
代理公司: 济南舜源专利事务所有限公司 37205 代理人: 李江
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种器件芯片拉脱力测试的固定装置,该装置包括一底座,底座上套入一旋转握持器,还包括一紧固螺钉用于垂直方向上固定旋转握持器。所述的旋转握持器上配装有夹持器及支架,一芯片粘接器穿过支架上的孔并固定其上。该装置结构简单,安装方便,垂直精度高,可靠性强,测试精度高,制造成本低廉,市场前景好。
搜索关键词: 一种 器件 芯片 拉脱力 测试 固定 装置
【主权项】:
一种器件芯片拉脱力测试的固定装置,其特征为:该装置包括一底座,底座上套入一旋转握持器,还包括一紧固螺钉用于垂直方向上固定旋转握持器,所述的旋转握持器上配装有夹持器及支架,一芯片粘接器穿过支架上的孔并固定其上。
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