[发明专利]金属镀层的测量方法有效
申请号: | 201310048309.3 | 申请日: | 2013-02-06 |
公开(公告)号: | CN103175494A | 公开(公告)日: | 2013-06-26 |
发明(设计)人: | 梁朝辉 | 申请(专利权)人: | 工业和信息化部电子第五研究所 |
主分类号: | G01B21/08 | 分类号: | G01B21/08 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 万志香;曾旻辉 |
地址: | 510610 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种金属镀层的测量方法,包括取样、烘烤、调胶、固化、粗磨、细磨、抛光、蚀刻、测量步骤,所述取样步骤中在样品的金属镀层表面涂覆环氧胶,所述环氧胶的涂覆量为0.01g-10g/cm2。本发明可于常温常压下进行,可操作性强且成本较低;测试结果重现性高,所得数据便于工程参考和对比。 | ||
搜索关键词: | 金属 镀层 测量方法 | ||
【主权项】:
一种金属镀层的测量方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)取样;(2)烘烤;(3)调胶;(4)固化;(5)粗磨和细磨;(6)抛光和蚀刻;(7)测量;所述步骤(1)为:切割样品,并在样品的金属镀层表面涂覆环氧胶,所述环氧胶为用于COB包封的单组份环氧树脂胶;所述步骤(2)的烘烤温度为80‑200℃,时间为1h‑4h。
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