[发明专利]MCU芯片检测方法和电路

摘要

本发明提供一种MCU芯片检测方法和电路，电压产生电路22在控制电路21的控制下，经过采样电路23向处于输出状态的被测MCU芯片的IO管脚提供用于提供电压的测试信号，以使被测MCU芯片根据测试信号调整被测MCU芯片的IO管脚输出的电信号，采样电路23对被测MCU芯片的IO管脚输出的电信号进行采样，从而控制电路21获得被测MCU芯片的IO管脚输出的电压和电流的对应关系，由于利用了控制电路21和电压产生电路22改变IO管脚负载，且控制电路21和电压产生电路22体积较小，解决了现有技术中利用不同阻值的电阻改变管脚负载造成MCU芯片检测电路体积较大的技术问题，使得MCU芯片检测电路体积较小。

主权项

一种MCU芯片检测电路，其特征在于，包括：控制电路、电压产生电路、采样电路；所述控制电路、所述电压产生电路和所述采样电路依次连接；所述控制电路与所述采样电路连接；所述电压产生电路，用于在所述控制电路的控制下，经过所述采样电路向处于输出状态的被测MCU芯片的IO管脚提供测试信号，以使所述被测MCU芯片根据所述测试信号调整所述被测MCU芯片的IO管脚输出的电信号，所述测试信号为电压信号；所述采样电路，用于对所述被测MCU芯片的IO管脚输出的电信号进行采样，获得第一电压采样值和第一电流采样值，将所述第一电压采样值和第一电流采样值提供给所述控制电路；所述控制电路，用于控制所述电压产生电路通过所述采样电路向所述被测MCU芯片的IO管脚提供所述测试信号；以及接收所述采样电路提供的所述第一电压采样值和第一电流采样值，并根据所述第一电压采样值和第一电流采样值，获得所述被测MCU芯片的IO管脚输出的电压和电流的对应关系。