[发明专利]一种质子/电子综合辐照束流注量的检测方法

摘要

一种质子/电子综合辐照束流注量的检测方法，它涉及涉及一种质子/电子综合辐照束流注量的检测方法，本发明是为解决现有的辐照试验检测方法一次只能检测一种入射粒子束流的辐照通量，当质子/电子综合辐照时，束流积分仪无法显示相应的辐照通量的技术问题，合成方法如下：a确定综合辐照源能量，b确定检测材料，c计算综合辐照源在检测材料中的射程，d根据射程确定检测材料的厚度，e然后通过束流积分仪检测得到质子/电子综合辐照束流注量，解决了现有综合辐照检测方法，当通量近似的两种入射粒子同时辐照时，束流积分仪无法显示的问题，可以同时检测不同的辐照粒子束流的注量，检测方法操作简单，准确性高，可应用于地面综合辐照试验中。

主权项

一种质子/电子综合辐照束流注量的检测方法，其特征在于该检测方法按如下步骤进行：一、确定质子辐照源和电子辐照源的能量；二、根据步骤一的质子辐照源和电子辐照源的能量确定检测材料，确定原则为使质子辐照源全部损失的检测材料的厚度不小于3μm；三、利用Monte Carlo方法或Geant4程序，计算步骤一中质子辐照源和电子辐照源在步骤二中所选检测材料中的射程δ1和δ2；四、根据射程δ1和δ2，确定步骤二中所选检测材料的厚度A1和A2，确定原则为使质子辐照源全部损失在厚度为A1的检测材料中，使电子辐照源全部通过厚度为A1的检测材料，全部损失在厚度为A2的检测材料中；五、将步骤四中厚度为A1和A2的检测材料分别与相应的束流积分仪相连，检测材料重叠放置，使质子辐照源和电子辐照源同时先通过厚度为A1的检测材料，再通过厚度为A2的检测材料，检测材料之间有间隙，得到质子辐照源和电子辐照源的束流注量。