[发明专利]一种质子/电子综合辐照束流注量的检测方法

权利要求书

1.一种质子/电子综合辐照束流注量的检测方法，其特征在于该检测方法按如下步骤进行：

一、确定质子辐照源和电子辐照源的能量；

二、根据步骤一的质子辐照源和电子辐照源的能量确定检测材料，确定原则为使质子辐照源全部损失的检测材料的厚度不小于3μm；

三、利用Monte Carlo方法或Geant4程序，计算步骤一中质子辐照源和电子辐照源在步骤二中所选检测材料中的射程δ1和δ2；

四、根据射程δ₁和δ₂，确定步骤二中所选检测材料的厚度A₁和A₂，确定原则为使质子辐照源全部损失在厚度为A₁的检测材料中，使电子辐照源全部通过厚度为A₁的检测材料，全部损失在厚度为A₂的检测材料中；

五、将步骤四中厚度为A₁和A₂的检测材料分别与相应的束流积分仪相连，检测材料重叠放置，使质子辐照源和电子辐照源同时先通过厚度为A₁的检测材料，再通过厚度为A₂的检测材料，检测材料之间有间隙，得到质子辐照源和电子辐照源的束流注量。

2.根据权利要求1所述的一种质子/电子综合辐照束流注量的检测方法，其特征在于步骤二中确定原则为使质子辐照源全部损失的检测材料的厚度不小于1mm。

3.根据权利要求1或2所述的一种质子/电子综合辐照束流注量的检测方法，其特征在于步骤二中的检测材料为Al。

4.根据权利要求3所述的一种质子/电子综合辐照束流注量的检测方法，其特征在于步骤二中的检测材料为法拉第杯底部不同厚度的Al薄。

5.根据权利要求3所述的一种质子/电子综合辐照束流注量的检测方法，其特征在于步骤五中放置检测材料时，检测材料之间的间隙为1～30mm。